集成电路封装与测试技术 课件 第8章-集成电路测试技术概论.pptx

第八章集成电路测试技术概论

一、IC测试的基本概念二、故障模型与故障仿真三、测试方法学四、可测性设计五、混合信号IC和模拟IC测试六、模拟和混合信号集成电路的测试流程

1.1测试技术分类IC测试是对集成电路芯片的功能、性能和可靠性进行测试与验证的过程。本节主要介绍IC测试的目的、分类、基于故障的测试方法、数字集成电路测试流程以及测试经济学的基本思想。测试目的理解IC测试的目标与作用测试分类掌握测试技术的基本分类故障模型了解缺陷、故障与故障模型测试经济学认识测试成本与效率的关系基本概念

IC测试的基本目的IC测试的主要目的是确认芯片的功能、性能和可靠性是否满足设计规范和应用要求。测试不仅用于筛