IEC 61189-2-720-2024 材料和互连结构缺陷电容检测试验方法 标准立项发展报告.docxVIP

材料和互连结构缺陷电容检测试验方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:TestMethodsforElectricalMaterials,CircuitBoardsandOtherInterconnectionStructuresandAssemblies-Part2-720:DetectionofDefectsinInterconnectionStructuresbyMeasurementofCapacitance

摘要

随着电子信息技术的高速发展，电气材料、电路板及互连结构的可靠性和质量检测日益成为制约产业升级的关键环节。IEC61189-2-720:2024《电气材料、电路板和其他互连结构和组件的试验方法第2-720部分：通过测量电容检测互连结构中的缺陷》由国际电工委员会（IEC）于2024年3月6日正式发布实施。该标准规定了利用电容测量原理检测互连结构中缺陷的试验方法，涵盖测试原理、设备要求、测试程序、数据分析及结果判定等内容。本标准为电路板制造企业、电子组装厂商及检测机构提供了统一的电容检测技术规范，有助于提升互连结构缺陷检测的准确性和可重复性，对保障电子产品可靠性、降低制造成本具有重要的工程应用价值。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术内容、应用意义及发展趋势