IEC 62951-6：2019 半导体器件.柔性和可拉伸的半导体器件.第6部分柔性导电薄膜片电阻的试验方法标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件柔性和可拉伸的半导体器件第6部分：柔性导电薄膜片电阻的试验方法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–FlexibleandStretchableSemiconductorDevices–Part6:TestMethodforSheetResistanceofFlexibleConductingFilms

摘要

随着柔性电子与可穿戴技术的快速发展，柔性导电薄膜作为核心功能材料，其电学性能的准确表征已成为产业界和学术界共同关注的关键问题。国际电工委员会（IEC）于2019年5月正式发布了IEC62951-6:2019《半导体器件柔性和可拉伸的半导体器件第6部分：柔性导电薄膜片电阻的试验方法》，为柔性导电薄膜片电阻的标准化测量提供了国际统一的技术规范。该标准由IEC/TC47（半导体器件技术委员会）负责制定，属于IEC62951系列标准的重要组成部分。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、技术内容框架及适用范围，重点分析了标准所规定的片电阻测试原理、试样制备要求、测量条件及数据处理方法。报告还介绍了主要参与制定单位的技术贡献，并结合当前柔性电子产业发展趋势，对该标准的应用前景和后续修订方向进行了展