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电路与系统

CircuitsandSystems

面向密码芯片设计阶段的仿真侧信道安全性分析方法研究*

沈炜，刘诗宇，杨光，李东方

（中国航天科工集团第二研究院706所，北京100854）

摘要：密码芯片是密码算法实现的重要载体，在信息系统中承担了加解密、签名、认证等功能，侧信道分析是检测

密码芯片安全性的重要手段，当前行业内通常采用专用设备进行侧信道分析，该方法存在发现时间晚、修复成本高、

硬件设备昂贵等问题。研究面向密码芯片设计阶段的能量采集与侧信道分析方法，采用EDA工具在设计阶段对密

码芯片的RTL代码进行功能仿真，通过分析仿真生成的波形记录文件，实现对能量迹的模拟和采集。采用Welcht检

验、KL散度和相关能量分析方法，实现了对芯片RTL代码的泄漏检测、泄漏定位和侧信道攻击。通过对AES-128

RTL设计的仿真实验，证明了该方法能够正确地反映能量泄漏情况，且能够在不借助专用硬件设备的条件下实现对

密码芯片早期设计阶段的侧信道泄漏安全风险检测。

关键词：密码芯片；仿真功耗；泄漏检测；能量侧信道攻击

中图分类号：TP311