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能量色散X射线荧光光谱仪第3部分：镀层厚度分析仪

JB/TXXXXX—2025

EnergydispersiveX-rayfluorescencespectrometer—Part3:Coatingthicknessanalyzer

2026-03-01发布2026-08-01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

前言

JB/TXXXXX《能量色散X射线荧光光谱仪》拟分为以下三个部分：

——第1部分：通用技术条件；

——第2部分：元素分析仪；

——第3部分：镀层厚度分析仪。

本文件为JB/TXXXXX的第3部分。

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

本文件由中国机械工业联合会提出。

本文件由全国实验室仪器及标准化技术委员会（SAC/TC526）归口。

本文件为首次发布。

1范围

本文件规定了能量色散X射线荧光镀层厚度分析仪（以下简称仪器）的术语和定义、型式与基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装和保管。

本文件适用于采用能量色散X射线荧光（EDXRF）原理，对金属及非金属基材上的镀层、涂层、薄膜厚度进行无损测量的台式或便携式仪器。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对