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7.X-S Chart (平均值與標準差管制圖) 適用製程與X-R管制圖同,但當n>10,則使用X-S管制圖 X管制圖: 中 心 線(CL)=X 管制上限(UCL)=X+A3S 管制下限(LCL)=X-A3S S管制圖: 中 心 線(CL)=S 管制上限(UCL)=B4S 管制下限(LCL)=B3S S 8.管制圖的判讀 Ⅰ.管制圖之管制(安定)狀態之判别: .沒有點子逸出管制界限外 .點子的分呈隨機分佈(無規則可循) Ⅱ.管制圖之不正常型之判定 符合下述之一項者,即為不正常之型態,应采取行动。 ①點超出管制界限 ★ UCL CL +3σ +2σ +1σ A區 B區 C區 ②.在中心線同側,連續三點中有二點落在A區或A區以外者 +3σ +2σ +1σ A區 B區 C區 UCL CL ★ ③.在中心線同側,連續五點中有四點落在B區或B以外者 ★ +3σ +2σ +1σ A區 B區 C區 UCL CL UCL CL ★ ④.八個連續點子出現在中心線之同側者 +3σ +2σ +1σ A區 B區 C區 ⑤.連續七點同一方向者 +3σ +2σ +1σ A區 B區 C區 UCL CL A區 B區 C區 +3σ +2σ +1σ LCL ★ ★ 9.案例 10.控制图注意事项 ①规格界限用来(如公差的上下限、硬性规定的的不合格率)不能当作上下控制界限UCL、LCL; 规格界限用来区分合格与不合格,控制界限用来判定正常波动与异常波动,两者完全是两码事,不能混为一谈 ②对于P控制图(不合格品率控制图)中有点溢出下控制限或7点呈下降趋势,有人认为是不合品率越低,质量越来越好,不能算异常.这种观点错误,此种情况包含的异常因素可能有: A.量具失灵,造成测量结果有误.应更新量具,并检讨以前测量结果; B.合格品的判定方法有误,应立即改正; C.有真正使不合格品率变小的因素,应积极寻找出这种因素,并将它用作业指导书固定下来,以大幅降低不合格品率. ③应记录过程因素5M1E(人员、机器、材料、方法、测量系统、环境)的任何变化,这些记录将有助采取改进措施. ④控制图的控制线来自分析用控制图,不必随时计算。只有当影响过程质量的波动因素发生变化或质量水平已有明显提高时,才需要用分析用控制图计算出新的控制线 The end! 品质管理之 统计技术培训 制程能力、直方图、控制图 周红军 课程内容 一.制程能力 二.直方图 三.控制图 一.制程能力 1.定义: 制程能力是指:工序的加工品质满足技术标准的能力。 制程能力指数是指:表示工序能力满足产品品质标准(规格,公差)的程度。一般以Cp或Cpk表示。 Cp适用于品质标准的中心与实测数据的分布中心一致,即无偏离的情况下. Cpk适用于品质标准规格的中心与实测数据的分布中心值不一致,即有偏离的情况下。 当工序处于稳定状态时,产品的计量特性值有99.73%落在u±3σ的范围内,也就是说,我们可以反复用测定的数值来判定工序是否处于稳定状态下,而工序稳定是品质稳定的前提保证. 2.工序能力的4种情况 Ⅰ. 当品质规格双侧都有公差,即有规格上、下限时(采样实测中心值与品质规格中心值无偏离: Cp=T/6σ=(Tu-TL)/6σ≈T/6S 其中:T为公差范围,Tu为上限,TL为下限,σ为工序的标准偏差, σ的计算可用样本的标准偏差S来代替,通常σ≈S Ⅲ.当品质规格只有上限单侧公差时: Ⅳ.当品质规格只有下限单侧公差时: Ⅱ.当品质规格双侧都有公差,即有规格上、下限时(采样实测中心值与品质中心值有偏离): 3.制程能力的计算方法 可用Excel建模版或SPC软件(如Minidate) SPC软件 4.工序能力与不良率的关系: 工序能力越高,不良率越低,工序能力越低,不良率超高 工序是否稳定取决于4M1E(人,材料.机器.方法,环境)是否处于最佳状态,而想要4M1E永远都保持在最佳状况是不容易办到,它意味着要消耗高昂的成本。所以人们以把工序能力指数Cp=1.33时作为理想控制目标. 理解区域 k偏移 P不良率 5.工序能力的判定与处理 Cp值的范围 判定 应采取对策 Cp≥1.67 工序能力过高 可考虑抽检或免检 1.67>Cp≥1.33 工序能力充分 继续维持现状 1.33>Cp≥1.0 工序能力尚可 要注意各个生产要素的变化情况,产品要加严检查 1.0>Cp≥0.67 工序能力不足 找出影响因素,采取对策,产品必须全检 0.67>Cp 工序能力严重不足 必要时,停止生产,直到找到原因,确实加以对策,产品要全检 二.直方图 1.直方图定义:就是将数据按其顺序分成若干间距相等的组,以组为底这,以落入各组的频数

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