PC統計制程管制講義.pptVIP

* 50~200或更多)以便檢驗出性能的一般 變化.對于顯示可分析的圖形的控制圖, 子組容量應足夠大,大到每個子組內包 括幾個不合格品. b) 分組頻率 ---- 應根据產品的周期確定 分組的頻率以便幫助分析和糾正發現 的問題.時間間隔短則反饋快,但也与大 SPC * 的子組容量要求相矛盾. c) 子組的數量 ---- 收集數据的時間應足 夠,長使得能找到所有可能影,響過程的 變源.一般情況下,也應包括 25 或更多 的子組,以便能更好地檢驗過程的穩定 性,並且如果過程穩定,對過程性能也可 產生可靠的估計. SPC * 1.2 計算每個子組內的不合格品率(p) 記錄每個子組內的下列值: 被檢項目的數量 ---- n 以現不合項目的數量 ---- np 通過這些數据計算不合格品率: p = np / n 這些數據記錄在數據表中作為初步開究的 SPC * 基礎.當最近的過程數据适用時,它們可以用來 加速這一階段的研究. 1.3 選擇控制圖的坐標刻度 描繪數據點用的圖應將不合格品率作為 縱坐標.子組識別(小時,天數)作為橫坐標. 縱坐標的刻度應從 0 到初步研究數据讀 數中最大的不合格率值的 1.5 ~ 2 倍的值. SPC * 1.4 將不合格品率描繪在控制圖上 描繪每個子組的 p 值,將這些點連成通常 有助于發現異常圖形和趨勢. 當描點完成后,粗覽一遍看看它們是否合 理.如果任意一點比別的高出或低出許多, 檢查計算是否正確.當發現影響過程的特 殊情況時應記錄在備注欄內. SPC * 2. 計算控制限 2.1 計算過程平均不合格品率(p) 對于 k 個子組的研究時期,計算否合格品 率的均值如下: n1p1 + n2p2 +….+nkpk n1 + n2 +….+nk P = 式中: n1p1 , n2p2….及n1 , n2….為每個子組 SPC * 內的不合格項目數及檢查的項目數.注意不要 混淆不合格品百分數和否合格品率. 2.2 計算上下控制限( UCL LCL) 如果過程受統計控制,子組樣本容量一定, 則控制限為過程平均值加或減期望變差 允許值. UCLp = p + 3 p ( 1- p ) / n SPC * UCLp = p - 3 p ( 1- p ) / n 式中: n 為恒定的樣本容量. 注: 當 p 很小或 n 很小時,LCL的計算值有時 會為負值,在這種情況下則沒有下控制限, 因為即時极精確的時期內 P = 0 ,也在隨极 差變差极限內. SPC * 2.3 畫線並標注 過程均值(p) ---- 水平實線. 控制限(UCL LCL) ---- 水平虛線. 上述給出的控制限計算公式適用于子組 容量相同的情況下,理論上,只要樣本容量改變 (即使是一個子組容量),控制限隨之變化,在對 每個具有不同樣本容量的子組應分別計算各 SPC * 控制限.但實際應用時,當各子組容量與其平均 值相差不超過正負 25% 時,可用平均樣本容 量( n )來計算控制限.合理的程序為: ★ 確定可能超過其平均值 ± 25% 的樣本容 量范圍,找出樣本容量超出該范圍的所有 子組; ★ 按下式重新計算這些點准確的控制限: SPC * UCLp , LCLp = p ± 3 p ( 1- p ) / n 式中: n 為特殊子組樣本容量,點與點之間只 有 n 的值變化. 3.過程控制用控制圖解釋 目的:找出過程不再以同一水平運行的証据 ---- 即過程失控 ---- 並采取相應的措施.其 它的控制圖解釋同 X-R圖解釋. SPC * SPC a. 收集數据 (除前面 p 圖所講的相同外