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课程内容 测量系统分析的目的 测量系统分析的目的是确定所使用的数据是否可靠 测量系统分析还可以: 评估新的测量仪器 将两种不同的测量方法进行比较 对可能存在问题的测量方法进行评估 确定并解决测量系统误差问题 数据的质量 数据的质量取决于从处于稳定条件下进行操作的测量系统中,多次测量的统计特性,如:假设使用某一在稳定条件下操作的测量系统对某一特定特性值进行了几次测量,如果这些测量值均与该特性的参考值(master value)“接近”),那么,数据的质量被称为“高”;同样,如果部份或所有的测量值与参考值相差“很远”,则数据的质量很“低” 描述测量数据质量的统计特性 通常用来描述测量数据质量的统计特性是某测量系统的偏倚(Bias)和变差(variance)。 被称为偏倚的统计特性指的是数据值相对于参考(基准)值的位置。 被称为变差的特性指的是数据的分布宽度。 低质量数据的原因和影响 低质量数据的普遍原因之一是变差太大 一组数据中的变差多是由于测量系统及其环境的相互作用造成的。 如果相互作用产生的变差过大,那么数据的质量会太低,从而造成测量数据无法利用。如:具有较大变差的测量系统可能不适合用于分析制造过程,因为测量系统的变差可能掩盖制造过程的变差。 有关测量数据的常见问题 什么是测量? 根据观察到的数据,描述产品、过程或服务的数量、能力或表现 为什么我们需要测量数据? 我们使用测量数据来判断产品是否合格,制定有关过程管理的决策。 我接受这件产品吗? 过程是很好,还是需要进行调整? 我们对测量数据有什么期望? 准确性:数据必须告诉我们真相! 重复性:重复测量必须产生同样的结果! 再现性:结果不应该受检验员的影响。 什么是测量仪器? 用来进行测量的任何仪器。 什么是检验员(或者鉴定人)? 使用测量仪器进行测量的个人或装置 有关测量数据的常见问题 测量系统:不仅指量具。 测量系统包括:人(及其培训)、过程(测量程序)、设备(量具或测量工具)、系统的控制点、及所有这些因素的相互作用。 测量总偏差: 总的观察偏差=过程偏差+测量系统偏差 测量是一个能影响所观察值的中心值和偏差的过程。 有关测量数据的常见问题 Gage RR分析是用来分析测量系统的方法,目的是确定测量某种东西时出现的波动(误差)的大小和类型。 将“测量系统”看作是会给测量数据带来额外误差的子过程,其目的就是使用误差尽可能小的测量过程。 任何观测数据的误差,都是部件的实际误差和测量系统误差的总和。 连续变量测量系统分析 变差来源识别以及影响 There are different types of variation that must be addressed: Repeatability Reproducibility Setup Variation Accuracy Stability Resolution Linearity 测量系统特性及变差类型和定义 测量仪器分辨率(测量仪器的分辨率必须小于或等于规范或过程误差的10%) 测量仪器分辨率可定义为测量仪器能够读取的最小测量单位。 看看下面的部件A和部件B,它们的长度非常相似。测量分辨率描述了测量仪器分辨两个部件的测量值之间的差异的能力。 分辨率不足的表现 在过程变差的SPC极差图上可看出: 当极差图中只有一、二或三种可能的极差值在控制界限内时。 如果极差图显示有四种可能的极差值在控制界限内,且超过1/4以上的极差值为零。 敏感度(Sensitivity) 敏感度是指能产生一个可检测到(有用的)输出信号的最小输入。它是测量系统对被测特性变化的回应。敏感度由量具设计(分辨力)、固有质量(OEM)、使用中保养,以及仪器操作条件和标准来确定。它通常被表示为一测量单位。 影响敏感度的因素包括: 一个仪器的衰减能力 操作者的技能 测量装置的重复性 对于电子或气动量具,提供无漂移操作的能力 仪器使用所处的条件,例如:大气条件、尘土、湿度 偏倚研究的分析 如果偏倚在统计上不等于0,检查是否存在以下原因: 基准件或参考值有误—检查确定标准件的程序 仪器磨损—维修 仪器所测量的特性有误 仪器没有经过适当的校准—对校准程序进行评审 评价者使用仪器的方法不正确—对测量指导书进行评审 偏倚的调整 如果偏倚不等于零,应采用硬体修正法和软体修正法对量具进行重新校准以达到零偏倚;如果偏倚不能调整为零,通过变更程序(每个读值根据偏倚进行修正)还可继续使用该测量系统。由于存在评价误差这一高度风险,因此这种方法只能在取得顾客同意后方可使用。 线性 在量具正常工作量程内的偏倚变化量 多个独立的偏倚误差在量具工作量程内的关系 是测量系统的系统误差构成 线性误差的原因 造成线性误差的可能原因如下: 仪器需要校准,缩短校准周期 仪器、设备或夹具的
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