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三、一个晶胞对X射线的散射 《材料分析测试方法》 简单点阵只由一种原子组成，每个晶胞只有一个原子，它分布在晶胞的顶角上，单位晶胞的散射强度相当于一个原子的散射强度。 复杂点阵晶胞中含有n个相同或不同种类的原子，它们除占据单胞的顶角外，还可能出现在体心、面心或其他位置。 复杂点阵单胞的散射波振幅应为单胞中各原子的散射振幅的矢量合成。由于衍射线的相互干涉，某些方向的强度将会加强，而某些方向的强度将会减弱甚至消失。这种规律称为系统消光（或结构消光）。 原子间的相位差: 合成振幅: 结构因子 《材料分析测试方法》 《材料分析测试方法》 可将复数展开成三角函数形式: 当 时，（HKL）面既使与入射X射线满足布拉格方程也无衍射——称为系统消光。 F表示以一个电子散射振幅度量的单胞中所有原子的散射波在（hkl）反射方向上的合成振幅。 结构因子的物理意义 《材料分析测试方法》 ——衍射的必要条件 ——衍射的充分条件 四、结构因子的计算 《材料分析测试方法》 1. 简单点阵 单胞中只有一个原子，其位置为：xyz = 000，原子散射因子为f 简单点阵其结构因子与HKL无关，即HKL为任意整数时均能产生衍射。 令 则简单立方能够出现的衍射面的N值比是： N1:N2:N3:N4…….. = 1：2：3：4：5：6：8……. (除7、15、23……的正整数) 例如(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(211)、(220)… 等晶面均可衍射。 《材料分析测试方法》 2. 体心立方点阵 《材料分析测试方法》 单胞中有两个相同原子，位置：x1y1z1 = 000，x2y2z2 = ? ? ?原子散射因子为f1=f2=f 当H+K+L=奇数时， ，即该晶面的散射强度为零，这些晶面的衍射线不可能出现。例如(100)、(111)、(210)、(300)、(311)等。 当H+K+L=偶数时， 即体心点阵只有指数之和为偶数的晶面可产生衍射。例如(110)、(200)、(211)、(220)、(310)…。 这些晶面的N值比是： 2：4：6：8：10… 《材料分析测试方法》 3. 面心立方点阵 《材料分析测试方法》 单胞中有四个相同原子，位置：x1y1z1 = 000，x2y2z2 = 0 ? ?， x3y3z3 = ? 0 ?， x3y3z3 = ? ? 0 ，原子散射因子为f1=f2=f3=f4=f 当H、K、L全为奇数或全为偶数时， 当H、K、L为奇数混杂时， （消光） 即面心立方点阵只有指数为全奇或全偶的晶面才能产生衍射。例如（111）、（200）、（220）（311）、（222）、（400）…。能够出现的衍射线。 其N值比是：3：4：8：11；12：16：19：20：24… 《材料分析测试方法》 消光规律 简单点阵:任何晶面都可产生衍射 无消光 体心点阵:三指数和为偶数的晶面衍射 三指数和为奇数的晶面消光 面心点阵:全奇或全偶的晶面衍射 奇偶混杂的晶面消光 《材料分析测试方法》 4. 当晶胞内有异种原子时F的计算 《材料分析测试方法》 有序化使无序固溶体因消光而失却的衍射线复出现，这些被称为超点阵衍射线。根据超点阵线条的出现及其强度可判断有序化的出现与否并测定有序度。 五、一个晶体对X射线的衍射 一定尺寸的晶体可以看成由单胞在三维空间周期重复排列而成。因此，在求出一个晶胞的散射波之后，按位相对所有晶胞的散射波进行叠加，就得到整个晶体的散射波的合成波，即得到衍射线束。 按前面方法求得合成振幅： 强度与振幅的平方成正比，故 《材料分析测试方法》 干涉函数（形状因子） 上式中　　称干涉函数或形状因子，　为小晶体的衍射强度。G的表达式为： 干涉函数的图象为参与衍射的晶胞数N１越多，　越大，峰也越尖锐。 《材料分析测试方法》 3.3 多晶的衍射强度 多晶粉末的衍射强度除了与结构因子有关外，还与角因子等因素有关 《材料分析测试方法》 结构因子 角因子（包括极化因子和洛伦兹因子） 多重性因子 吸收因子 温度因子