《高分子科学导论》高分子的表征与分析.pptVIP

X-射线衍射 X-ray diffraction, XRD 偏光显微镜 Polarizing optical microscope, POM 高分辨透射/扫描电子显微镜 Transmission electron microscopy,TEM Scanning electron microscopy, SEM 原子力显微镜 Atomic force microscopy, AFM 扫描隧道显微镜 Scanning tunneling microscopy, STM Morphology 在高聚物物相、结晶度、晶粒择优取向和晶粒尺寸的研究中，X 射线衍射（X-ray diffraction）方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，成为直观判断结晶状况的实证。 X-ray diffraction 偏光显微镜是研究晶体形态的有效工具之一，许多重要的晶体光学研究都是在偏光镜的正交场下进行的，即起偏镜与检偏镜的振动平面相互垂直。在正交偏光镜间可以观察到球晶的形态，大小，数目，生长速率及光性符号等。 Polarizing optical microscope Transmission electron microscopy 透射电镜（TEM） 利用TEM可以观测高分子聚合物及其复合材料的微观结构，形状及分布。 Carbon nanotube Carbon nanotube Transmission electron microscopy PLA/MMT PLA/Mica micelles of PCL-b-PEO organo-sepiolite; 3 wt.% sepiolite/PU Scanning electron microscopy 用SEM可以观察聚合物表面形态；聚合物多相体系填充体系表面的相分离尺寸及相分离图案形状；聚合物断面的断裂特征；纳米材料断面中纳米尺度分散相的尺寸及均匀程度等有关信息。 Nanofiber Microsphere Micro phase separate 原子力显微镜（AFM） 原子力显微镜的基本原理就是利用一个探针去感测物体。如果说传统光学显微镜假如是“看”的话， AFM 显微镜就有点类似于“摸”，探针可以因为机械接触力、范德华力、毛吸力、化学键、电力、磁力、溶剂力等产生偏移，然后再由上面的激光去测量其偏移量，可以得到一个样本的立体影像。 Atomic force microscopy, AFM 原子力显微镜可以观察聚合物表面的形貌，高分子链的构象，高分子链堆砌的有序情况和取向情况，纳米结构中相分离尺寸的大小和均匀程度，晶体结构、形状，结晶形成过程等信息。 Detector and feedback electronics Photodiode Laser Sample Surface Cantilever Tip PZT Scanner AFM height and phase images of plasticized CA/compatibilizer/ organoclay system Atomic force microscopy, AFM Polymer micelle Summary 高分子的分子量及其测试方法 高分子的分子结构分析 高分子的力学性能--应力与应变关系 高分子的热性能与结晶性能 高分子的粘弹性和流变性能 高分子的形态分析 * * 四川大学 化学学院 Characterization and Analysis of Polymer Introduction to polymer science 高分子的表征与分析 Content 高分子的分子量及其测试方法 高分子的分子结构分析 高分子的力学性能 高分子的热性能 高分子的粘弹性和流变性能 高分子的形态分析 Polymer molecular weight 数均分子量 重均分子量 Z均分子量 粘均分子量 假定某一高分子试样中含有若干种分子量不同的分子，该试样的总质量为w，总摩尔数为n，种类数用 i 表示，第 i 种分子的分子量为Mi，摩尔数为 ni，质量为 wi，在整个试样中的质量分数为Wi，摩尔分数为Ni 分子量分布 d = Mw/Mn 聚合物分子量的特点： Mz Mw Mη Mn , 其中 Mη 略低于 Mw。 Mn 靠近聚合物中低分子量的部分，即低分子量部分对 Mn 影响大； Mw 靠近高分子量的高分子量部分，即高分子量部分对 Mw 影响大； 一般用 Mw 来表征聚合物比 Mn 更为恰当，因为聚合物的性能如强度、熔体粘度等更多的依赖于样品中分子量较大的分子。 高分子的分子量并不是越高越好，当分