统计过程控制SPC课件.pptVIP

* 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * 1 * * page * 第三节 不合格数的c图 c图用来测量一个检验批内的不合格（或缺陷）的数量（与描在np图上的不合格品的数量不同）。c图要求样本的容量恒定或受检材料的数量恒定，它主要应用于以下两类检验： · 不合格分布在连续的产品流上（例如每匹维尼龙上的瑕疵，玻璃上的气泡或电线上绝缘层薄的点），以及可以用不合格的平均比率表示的地方（如每100ｍ２维尼龙上的瑕疵）； · 在单个的产品检验中可能发现许多不同潜在原因造成的不合格（例如：在一个修理部记录，每辆车或元件可能存在一个或多个不同的不合格）。 以下是绘制和应用c图的步骤，与前面所介绍的p图的基本绘制方法有相同之处，不同之处介绍如下： * page * A．收集数据 （参见本章第一节A节部分，不同之处如下） · 检验样本的容量（零件的数量，织物的面积，电线的长度等）要求相等，这样描绘的c值将反映质量性能的变化（不合格的发生率c）而不是外观的变化（样本容量n），在数据表中记录样本容量； · 记录并描绘每个子组内的不合格数（c）。 * page * B．计算控制限 （参见本章第一节B部分，不同之处如下） · 计算过程不合格数均值（ ）： 式中：C1，C2…为k个子组内每个子组的不合格数。 ·计算控制限（UCLc和LCLc）： * page * C．过程控制解释 （参见本章第一节C部分） D．过程能力解释 （参见本章第一节D部分，不同之处如下） 过程能力为 ，即固定容量n的样本的不合格数平均值。 * page * 第四节 单位产品不合格数的u图 u图用来测量具有容量不同的样本（受检材料的量不同）的子组内每检验单位产品之内的不合格数量，除了不合格数是按每单位产品为基本量表示以外，它是与c图相似的，u图和c图适用于相同的数据情况，但如果样本含有多于一个“单位产品”的量，为使报告值更有意义时，可以使用u图，并且在不同时期内样本容量不同时必须使用u图，u图的绘制与p图相似，不同之处如下： * page * A．收集数据 （参见本章第一节A部分，不同之处如下） · 各子组样本的容量彼此不必都相同，尽管使它的容量保持在其平均值的正负25%以内可以简化控制限的计算； · 记录并描绘每个子组内的单位产品不合格数（u）： 式中：c为发现的不合格数量，n为子组中样本的容量（检验报告单位的数量），c和n都应记录在数据表中。 * page * 注：每个子组的样本容量n是按检验报告单位来表示的，有时报告的单位是一个产品单元，如一台发动机。然而，多数情况下检验报告单位不是一个产品单位。例如，在注明为每100个单位产品中不合格的报告中，报告单位应为100个单位产品，而n代表检验了多少个一百。 B．计算控制限 （参见本章第一节B部分，不同之处如下） · 计算每单位产品过程不合格数的平均值： 式中：C1、C2…及n1，n2…为K个子组内每个子组的不合格数及样本容量。 * page * 计算控制限（UCL和LCL） 式中： 为平均样本容量。 注：如果某些子组的样本容量与平均样本容量的差超过正负25%，按下式重新计算其准确的控制限： 式中： 为过程均值，n为特定子组的样本容量(检验报告单元的数量)，改变控制图上的控制限并作为识别特殊原因的基础。 注意使用可变的控制限是很麻烦的而且可能造成混淆，最好尽可能使用容量相同的样本来避免这种情况发生。 * page * C．过程控制解释 （参见本章第一节C部分） D．过程能力解释 （参见本章第一节D部分） 过程能力为