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- 2017-09-17 发布于重庆
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利用X射线衍射测量材料中的微观;内容X射线法测量两相材料中的残;X射线法测量两相材料中的残余应;微观应力对宏观残余应力测量结果;测量原理(1)(2)(3)以两;实验过程利用X射线残余应力分析;实验仪器及材料仪器:STRES;Stress3000 衍射仪;Stress3000 衍射仪;实验结果序号测点深度(mm)σ;结论五次试验测量的两相第二类残;结后语可能细心的专家会有这样一;欢迎各位专家批评指正!!
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