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Application Report ZHCA530 – April 2013 LDO 环路稳定性及其对射频频综相噪的影响 李俊明, 龙云 摘要 相位噪声是时钟、射频频综最为关注的技术指标之一。影响锁相环相噪的因素有很多，比 如电源、参考源相噪、VCO 自身的相噪、环路滤波器的设置等。其中，电源引入的低频噪 声往往对锁相环的近端相噪有着很大的影响。对于高性能的时钟和射频频综产品，为了获 得极低的相噪性能，往往采用低噪声的 LDO 供电。然而，采用不同的 LDO 给频综供电， 取得的相噪性能往往会有很大差别，同时，LDO 外围电路设计也会影响到频综的相噪性能。 本文首先简要地介绍了 LDO 的噪声来源及环路稳定性对输出噪声的影响；其次，根据调频 理论推导出 VCO 的相位噪声与 LDO 的噪声频谱密度的理论计算关系。在此基础上，为了 验证 LDO 噪声对射频频综输出相噪的影响，分别采用TPS7A8101 和 TPS74401 LDO 评 估板给 TRF3765 射频频综评估板供电，对比测试这两种情况下的 TRF3765 相噪曲线；同 时，为了验证 LDO 环路稳定性对频综相噪的影响，针对 TPS7A8101 评估板的参考电路做 出部分修改，并对比测试了电路修改前后的TRF3765 输出相噪。 目录 1 LDO 噪声来源及环路稳定性对输出噪声影响 2 1.1 LDO 噪声来源2 1.2 LDO 噪声抑制方法 3 1.3 LDO 环路稳定性与输出噪声的关系4 2 LDO 噪声与VCO 输出相噪的关系 5 3 采用不同LDO 进行射频频综供电对比测试 6 3.1 TPS7A8101/TPS74401 频综供电对比测试 6 3.2 TPS7A8101 输出电路优化及其对频综相噪的影响 8 4 结论 10 5 参考文献 10 图表 图1 LDO 的PSRR 与噪声 2 图2 LDO 内部框图（噪声源） 3 图3 LDO 内部框图（增加噪声抑制电容和前馈电容） 3 C FF 图4 不同 下的噪声频谱密度图 4 图5 LDO 小信号模型 4 图6 增加前馈电容后的频率响应波特图 5 图7 由电源噪声引入的VCO 相噪恶化 5 图8 TPS7A8101 与TPS74401 噪声频谱密度图 7 图9 LDO 频综供电对比测试设置 7 1 ZHCA530 图10 采用TPS7A8101/TPS74401 供电的TRF3765 相噪曲线 8 图11 TPS7A8101 评估板初始原理图 8 图12 TPS7A8101 提高环路稳定性后的原理图 9 图13 TPS7A8101 稳定性改善前后TRF3765 相噪曲线 9 表格 表 1 不同LDO 给频综供电对比测试结果 10 1 LDO 噪声来源及环路稳定性对输出噪声影响 1.1 LDO 噪声来源 LDO 的噪声分为LDO 内部的噪声和LDO 外部的噪声。LDO 内部的噪声来自于内部电路的带隙基 准源，放大器以及晶体管。LDO 外部的噪声来自于输入。在LDO 的手册中，PSRR 是表征LDO