小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度3.pdfVIP

第 50 卷 第 6 期 2001 年 6 月 物 　理 　学 　报 Vol. 50 ,No. 6 ,June ,2001 ( ) 10003290200150 06 112804 ACTA PHYSICA SINICA 2001 Chin. Phys. Soc. 小角 X 射线散射法测定溶胶平均界面厚度 李志宏 　巩雁军 　吴 　东 　孙予罕 ( 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,太原　030001) 王 　俊 　柳 　义 　董宝中 ( 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,北京　100039) ( ) 2000 年 11 月 1 日收到;2000 年 12 月 7 日收到修改稿 　　溶胶界面层厚度通常是用 Porod 法对高角区负偏离的 Porod 曲线进行拟合求算,但本文研究表明还可通过分别 测定 Porod 负偏离校正前后体系粒子的平均半径之差而获得平均界面厚度. 应用上述方法测定了在不同制备条件 下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度. 关键词 : 小角 X 射线散射 , 溶胶 , 平均界面厚度 PACC : 6110 , 8270 3 ( ) 2 ln [ q J q ] q 曲线将形成负偏离,即 3 2 2 1 　引 言 ln [ q J ( q) ] = ln K′- σq , (2) ( π) 12 σ ( ) E = 2 . 3 胶体是一种重要的纳米粒子分散体系[1 ] ,小角 σ 以上 为界面厚度参数 , E 为界面厚度. ( ) X 射线散射 SAXS 是表征这种体系结构的一种重 [2 ] 22 　平均粒度法 要手段 ,可以得到许多定性和定量的结构信息 ,这 对于了解和控制体系的物理化学特征具有重要意 对于胶体体系 ,纳米尺度的溶胶胶核是主要的 义. 本文探讨 SAXS 在测定溶胶平均界面层厚度上 散射体 ,胶核周围的双电层的存在则减弱了主散射 的应用 , 以获得其他测试方法难以得到的信息. 体胶核的散射 ,从而导致 Porod 负偏离的形成. 因此