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2017-09-15 发布于重庆
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利用X射线荧光分析法所进行的卤素测量.pdf

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利用 X 射线荧光分析法所进行的卤素测量 2009.06.15 1.前言 PE中の塩素 PE 中的 Cl 根据燃烧条件的不同，卤素会生成二恶英等有試料厚みとFP法よる塩素の蛍光X線相対強度样品厚度及通过 FP 法得出的 Cl的 X 射线荧光的相对强度机卤气，在废弃焚烧的时候对环境会产生污染。因度强对 1 此，推出了以德国的二恶英政令为首，EU为中心的度相共存なし強的去除电子・电气中的卤素活动。主要是关于不使用対 Ba1% 光相 0.5 荧 Ba3% 線线路板中的阻燃剂和添加物中的卤素的活动。线 X 射关于无卤的印刷线路板，在国际性的IEC X 0 0 50 100 150 200 250 61249-2-21里，日本的社团法人日本电子回路工业試料厚み（ m）样品厚度 μ 会（JCPA）定义了无卤的概念。规定了氯、溴的含量各在0.09wt%以下，总量在0.15wt%以下。随着图1 样品厚度和FP 法中氯的X 射线荧光相对强度 RoHS的发展，无卤规定也推出了。下面就介绍一下关于它的测量方法。为了把不均匀的样品变均匀，这里的例子是把 2.样品及试验方法