初始化生长条件对aGaN中应变的影响.pdfVIP

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第33卷第6期 发 光 学 报 VoL33 No.6 2012年6月 CHINESE 0FLUMINESCENCEJun..2012 JOURNAL 文章编号:1000-703212012)06-0581-05 初始化生长条件对口.GaN中应变的影响 贾 辉1”,陈一仁1’2,孙晓娟1’2, 黎大兵h,宋 航1,蒋 红1,缪国庆1,李志明1 (1.发光学及应用国家重点实验室中围科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033 2.中国科学院研究生院,北京1011039) 摘要:利用高分辨x射线衍射(HRXRD)与拉曼散射光谱(Ramanscatteringspectra)研究了氮化处理与低温 AIN缓冲层对低压金属有机化学气相沉积(LP—MOCVD)在r面蓝宝石衬底上外延的n面GaN薄膜中的残余 应变的影响。实验结果表明:与氮化处理后生长的mGaN相比,使用低温AIN缓冲层后生长的n—GaN具有较 小的摇摆曲线的半高宽和较低的残余应变,而且其结构各向异性和残余应变各向异性也均有一定程度的降 低。因此,与氮化处理相比,低温AIN缓冲层更有利于n.GaN的生长。 关键词:a-GaN;各向异性;掩曼散射光谱;残余应变 中圈分类号:0471 文献标识码:A DOI:10.3788/fgx0581 EffectofInitial ConditionsonTheStrainin GaN Growth a-plane JIAHuil”,CHENYi.renl”,SUN Xiao-juanl”,LIDa.bing“, SONG Hang‘。JIANGHon91,MIAOGuo—qin91,LIZhi—ming。 and Institute (1.State妍幻胁细_yofLuminescenceApplications,Changchunof唧f洒 FineMechanicsand Physics.ChineseAcademyof渤,Changchun130033.China; 2.Graduate UniversityofChineseAcademy矿&栅。Being100039,China) $CorrespondiagAuthor.E-ma//:l/db@c/omp.∞.m effectofnitridationtreatmentandthelOW bufferonstructure Abstract:The temperature(LT)A1N andstrain GaN on low chemical epilayemgrownr—planesapphireby pressuremetalorganic ofⅡ-plane been resolutiondiffraction vapor investigatedbyhigh X—ray deposition(LP·MOCVD)has

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