电子元件的老化与筛选.pdfVIP

第30卷，第2期 光谱实验室 V01．30，No．2 201 ChineseJournal March。201 3 3年3月 of SpectroscopyLaboratory 电子元件的老化与筛选 梁艺凡① (西安铁路信号有限责任公司继电器车间试验室西安市金花南路3号710048) 摘要为了保证电子元件使用的可靠性和稳定性，需要进行老化与筛选。电子元件的失效分为早期 失效、正常使用期和损耗老化失效期三个阶段。除了常用的老化筛选方法之外，还可采用自然老化和简易 老化方式。以场效应管功率老化系统为例研究了常用试验装置。国产电子元件需加强老化筛选这个环节。 关键词电子元件；老化；筛选 中圈分类号：TM206 文献标识码：A 文章编号：1004-8138(2013)02．0865．04 1 引言 随着中国电子行业的飞速发展，电子产品对元器件的可靠性要求越来越高。元器件性能是否稳 定可靠，是决定整机可靠性与性能优劣的关键因素[1]。 在电子元件的制造过程中，由于人为的因素或原材料、工艺条件、设备条件的波动，最终制造出 的产品不可能全部达到预期的固有可靠性水平。这种有问题的元件一旦焊人印刷电路板上，发现电 路不能正常工作，再去检查，不仅浪费很多时间和精力，而且拆来拆去很容易损坏元件及印刷电路 板‘23]。 电子元件的老化实际上是对元件的一种可靠性筛选试验，其目的是选择具有一定特性的产品， 或是为剔除早期失效的不合格元件，将电子产品的质量在加工初期进行有效的控制、稳定失效率而 进行的一种试验，从而保证电子产品使用的可靠性和稳定性。通过对元器件进行各种应力下的筛 选，可以剔除具有潜在隐患的早期失效元件，从而达到提高产品可靠性的目的。在正规的工业化生 产中，都设有专门的元器件筛选检测车间，备有许多通用和专用的筛选检测装备和仪器。 要使生产出的元器件组装出可靠性水平较高的电子设备，除在设计及制造时采取一系列保证 措施外，必须充分重视电子元器件的老化筛选这一关键环节。 2 电子元件的失效 人们在长期的生产实践中发现，新制造出来的电子元件在刚投入使用的时侯，一般失效率较 高，叫做早期失效。经过早期失效后，电子元器件便进入了正常的使用期阶段，一般来说，在这一阶 段中，电子元器件的失效率会大大降低。过了正常使用阶段，电子元器件便进入了耗损老化期阶段， 那将意味着寿终正寝[．]。这个规律，恰似一条浴盆曲线，人们称它为电子元件的效能曲线，如图1所 示。 ④联系人，手机；(0)187103093t6；E-mail：liangyf7606@163．corn 作者简介：粱艺凡(1976一)．女，陕西省歧山县人。工程师，主要长期负责电子元件的老化试验、继电器的型式试验、盐雾试验、现场 安装调试等技术工作． 收稿日期：2012—10—11；接受日期：2012—10—18 万方数据 光谱实验室 第30卷 电子元件失效的原因，是由于在设计和生产 时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。元 件的早期失效十分有害，但又不可避免。因此，人 们只能人为地创造早期工作条件，从而在制成产 萎 品前就将劣质品剔除，让用于产品制作的元件一 瓣 辏 开始就进入正常使用阶段，减少失效，增加其可靠 _j{ 性。 3 老化与筛选的方法 在正规的电子工厂里，采用的老化筛选项目 正常使用期 耗损老化失效期 一般有：高温贮藏；功率老化；温度循环；离心加速 时间柏 度；粗细检漏；镜检；监控振动和冲击；精密筛选等 图1电子元件的效能曲线 方法。其中功率老化是给试验