基于Nuttall 窗频谱校正的介质损耗因数测量[J].pdfVIP

第 31 卷 第 1 期 仪 器 仪 表 学 报 Vol.31 No. 1 1 2010 年 1 月 Chinese Journal of Scientific Instrument Jan. 2010 基于 Nuttall 窗频谱校正的介质损耗因数测量* 1 2 1 1 2 万 全 ，高云鹏 ，罗志坤 ，徐值坚 ，卿柏元 （1 湖南省电力公司试验研究院 长沙 410007 ；2 湖南大学电气与信息工程学院 长沙 410082 ） 摘 要：采用旁瓣峰值电平小且旁瓣渐近衰减速率大的窗函数对信号加权可减轻非同步采样和数据截断对介质损耗因数 tanδ 测量的影响。本文分析了 Nuttall 窗的旁瓣特性，提出