R、C、L串联谐振电路的研究.pdfVIP

实验十二 R、C、L 串联谐振电路的研究 一、 实验目的 1．电路发生谐振的条件、特点，掌握电路品质因数 （电路Q 值）、通频带的 物理意义及其测定方法加深理解； 2．学习用实验方法绘制R、C、L 串联电路不同Q 值下的幅频特性曲线； 3．熟悉使用信号源、频率计和交流毫伏表。 二、 原理说明 在图12-1 中所示的R、C、L 串联电路中，电路 C L 1 1 复阻抗Z R =+j (ωL − ) ，当ωL 时，Z R ， + ωC ωC • + • • U • U 与I 同相，电路发生串联谐振，谐振角频率 - R UR - 1 1 ω0 ，谐振频率f 0 。 图 12-1 LC 2π LC • • 在图12-1 电路中，若U 为激励信号，UR 为响应信号，其幅频特性曲线如图 12-2 所示，在f f 0 时，A 1 ，UR U ，f ≠f 0 时，UR U ，呈带通特性。 A 0.707 ，即UR 0.707U 所对应的两个频率f L 和f h 为下限频率和上限频率， f h −f L 为通频带。通频带的宽窄与电阻R 有关，不同电阻值的幅频特性曲线如图 12-3 所示。 电路发生串联谐振时，UR U ，UL UC QU ，Q 称为品质因数，与电路 的参数R 、L 、C 有关。Q 值越大，福频特性曲线越尖锐，通频带越窄，电路的 选择性越好，在恒压源供电时，电路的品质因数、选择性与通频带只决定于电路 本身的参数，而与信号源无关。在本实验中，用交流毫伏表测量不同频率下的电 压U 、UR 、UL 、UC ，绘制R 、L 、C 串联电路的幅频特性曲线，并根据f f h =−f L UL UC f 0 计算出通频带，根据Q 或Q 计算出品质因数。 U U f h −f L 三、 实验设备 1．信号源（含频率计） 2．交流毫伏表 3．EEL-33 组件（含实验电路）或EEL-52 组件 四、 实验内容 + uR - 3 1 A．适合EEL- Ⅱ 50Ω 2 实验电路如图 12-4 所 + 100Ω 1000p F 8000p F + 示（在EEL-33 组件上），图 u u