奈米粉體表面化學及其在液相介質中的性質表徵.pptVIP

奈米粉體的分散及表面改性Nano Powder and Surface Modification Ming-Seng Hsu ptCh. 4 奈米粉體表面化學及其在液相介質中的性質表徵 Outline 1 4.1　表面元素分析 4.1.1　X射線光電子能譜儀 4.1.2　歐傑能譜儀 4.1.3　二次離子質譜儀 4.1.4　傅立葉變換紅外光譜儀 4.2　液相中粉體粒度分佈的測定 4.2.1　分析顆粒尺寸的基本原則 4.2.2　顆粒的平均粒徑及值 4.2.3　不同的測量方法得到不同的粒徑平均值 4.2.4　平均粒徑、中位粒徑和多數粒徑 4.2.5　粒徑的測定方法 Outline 2 4.3　表面電荷的測定 4.3.1　微電泳法測定電位 4.3.2　電聲法測定電位 4.3.3　電位的影響因素 4.3.4　電位的應用 4.4　粉體在液相中相互作用力測定 4.4.1　表面作用力儀 4.4.2　原子力顯微鏡 4.5　分形理論研究奈米粉體分散 4.5.1　分形理論簡介 4.5.2　分形理論在膠體化學中的應用 4.5.3　計算團聚體分維值的方法 4.1 表面元素分析 表面元素分析 研究原先入射粒子的性質 彈性電子的繞射譜 非彈性電子的能量損失譜 低能離子表面散射譜 研究新生成粒子的性質 測量歐傑電子能量譜 光電子能量譜 二次離子質量譜 輻射光子能譜 「能量譜」(能量分析) 將不同能量帶電粒子所組成的粒子束，按能量的大小區分，測其強度與對應的能量的關係曲線 X射線激發光電子示意 XPS測定的金屬Ti和氧化物TiO中的Ti2p峰：由上至下金屬Ti中的Ti2p (454eV)，部分還原態的TiO (110)中的Ti2p峰，TiO中的Ti2p峰 (459eV) Al2O3/Al的TEM照片和顆粒尺寸分佈情況 對應圖4-3樣品的Al2p光電子譜 Al+3含量隨氧化鋁覆蓋層厚度及金屬鋁核厚度的變化 樣品在空氣中保存數週後由Al 2p的光電子信號得到Al百分含量的實驗值與計算值 電洞被電子填充的Auger過程和X射線過程 歐傑電子 自由原子 能階分立 價電子分別填充在不同的能階上 化學位移 元素在固體狀態時的能階位置，與自由原子狀態時相比有一些移動 影響歐傑電子譜線寬度和能量位置 歐傑電子的體衰減效應 固態與自由電子不同，它有一定的體密度和表面 歐傑電子與歐傑譜線 對應於圖4-9的AES半定量分析數據 奈米氧化鋯吸附NHPAA後的AES譜 (a) 奈米氧化鋯吸附NHPAA後的AES譜 (b) 二次離子質譜示意 富含18O的TiO2 (110)表面在吸附蟻酸前後的SSIMS譜 FTIR表徵表面特徵有兩種互為補充的方法 1. 利用FTIR確定吸附種類的化學組成 2. 觀察可吸附的探針分子吸附後的紅外光譜 吸附分子的振動頻率 依賴於表面原子的性質 且與表面內部原子的配位數有關 Michelson干涉器的原理示意圖 表面類型 路易斯酸或電子受體 路易斯鹼或電子供體 布朗斯特酸或質子供體 布朗斯特鹼或質子受體 利用FTIR奈米粉體表面基團種類的流程圖 表面傅立葉變換光譜提供訊息 表面種類的組成和結構 吸附分子與表面間的鍵合性質 活性表面中心的不同類型 SiCN粉體的紅外譜圖 SiCN粉體上H/D同位素交換 SiCN粉體吸附甲醇 4.2 液相中粉體粒度分佈的測定 長柱狀粉體所對應的等體積球形顆粒的直徑 長柱狀粉體所對應的等體積球形顆粒的直徑 幾種常見的等球體直徑 顆粒尺寸的正態分佈模式 顆粒尺寸的雙峰分佈模式 動態雷射散射法優點 無需標準樣品進行校正 寬的動態範圍 靈活性 乾粉 懸浮體和微乳 可以對整個樣品進行測定 非破壞性測定法，樣品可以再回收、利用 測定速度快 測定結果重現性好 高解析度 4.3 表面電荷的測定 雙電層結構示意 顯微鏡觀測顆粒的微電泳移動缺點 耗時 緩慢 繁瑣 只有幾個顆粒被觀測，缺乏統計學的意義 限於超顯微鏡的觀測範圍 只能用來觀測顆粒尺寸0.5m的顆粒 觀測準確性受觀測者的影響 超顯微鏡觀測顆粒電泳移動的示意 ζ電位儀工作原理示意 電位儀的優點 (與傳統的顯微鏡相較) 顯微鏡法測定顆粒在電場中的移動速度，只能觀測10～30個左右的顆粒 電位儀可以觀察到成千上萬顆粒的移動 測定效率高，測定速度快 可以對不穩定系統加以研究 即使顆粒的泳動速度很低也能夠準確測量 如在顆粒等電點附近 聲波粒度儀工作原理示意圖 ESA測定的氧化鋁粉體顆粒尺寸和頻率的變化關係 pH值=9時SiN漿料的固相含量對ESA測定值的影響 改變介質性質途徑 改變溶液的pH值 改變溶液的離子強度 產生特性吸附 吸附可溶性金屬離子 添加表面活性劑 一些常見陶瓷粉體的等電點 可溶性金屬陽離子及其水合物