大功率晶体管BUX10的退化试验与特性分析.pdfVIP

2012年 12月 15日 现代电子技术 Dec．2Ol2 第 35卷第 24期 ModernElectronicsTechnique Vo1．35No．24 大功率晶体管BUXIO的退化试验与特性分析 周建洪，杜 磊 (辽宁科技大学，辽宁 鞍 山 114051) 摘 要：大功率晶体管在工作过程中会出现正向电流传输 比、饱和压降以及集 电极一基极反向击穿电压等参数的退化现 象。在此针对BUXIO进行试验与特性研究。通过对BUX10进行长时间退化试验得到退化数据，利用Matlab进行常用模型 的退化轨迹拟合，通过比较各拟舍轨迹的拟合优度，选取拟合最优的退化模型推算出伪失效寿命，然后利用退化试验数据的 可靠性分析方法得到产品相应的可靠性信息。 关键词：大功率晶体管；参数退化；退化数据；可靠性评估 中图分类号：TN321—34 文献标识码 ：A 文章编号：1004—373x(2O12)24—0153-02 一 Characteristicanalysisanddegrationtestofhigh--powertransistorBUXIO ZH0U Jian-hong。DU Lei (UniversityofScienceandTechnologyLiaoning，Anshan 114051，China) Abstract：Intheprocessofoperation，thehigh—powertransistorsoccurstheparameterdegrationphenomena，suchasthe positivecurrenttransmissionratio，saturatedpressuredropandcollector-basereversebreakdownvoltage．Thispaperfocuses onthecharacteristicexperimentandresearchofBUX10．ThedegradationdataofBUX10wasobtainedafteralongterm de— grationtest．Matlabwasadoptedforthedegradationtrajectoryfittingofcommonmode1．Incomparisonofgoodness—of-fitof eachfittingtrajectory，theoptimum degradationmodelinfittingwasselectedtocalculatethepseudoburn-outlife，andthen thereliabilityanalysismethodofdegradationtestdatawasusedtogainthecorrespondingreliabilityinformationofproducts． Keywords：high—powertransistor；parameterdegradation；degradationdata}reliabilityevaluation 0 引 言 1 退化现象 大功率晶体管是最常见的一种功率器件 ，在应用上 大功率晶体管的参数退化现象已经得到很多专家学 有其特殊性，长期工作在大电压大 电流的条件下，其可 者的证实，但仍存在不少问题。有学者就微波功率器件 靠性问题严重制约着整个产品或系统的可靠性，所以大 的增益退化机理做出过研究口]，但未能进行长时间退化 功率晶体管的可靠性 问题越来越受到使用人员的关注。 试验证明试验结果 还有学者用硅脉冲双极性微波功率 本文意在通过对 ST公司生产的BUX10型号的大功率 管的良品和低效品进行 比较得出参数退化_2]，但是 良品 晶体管进行退化试验