基于高光谱散射图像技术的UVE-LLE苹果粉质化分类.pdfVIP

第 4O卷第 8期 光 子 学 报 Vo1．40No．8 201i年 8月 ACTA PH OT0NICA SINICA August2011 文章编号：1004-4213(2011)08—1132—5 基于高光谱散射图像技术的UVE—LLE 苹果粉质化分类 汪泊锦 ，黄敏 ，朱启兵 ，王爽 (江南大学 轻工过程先进控制教育部重点实验室，江苏 无锡 214122) 摘 要：利用高光谱散射 图像技术研究了苹果的粉质化无损检测．提出了一种无信息变量消除法和 局部线性嵌入相结合的苹果粉质化分类的新方法．经无信息变量消除法筛选后 的波段降为全谱 的 23．5％．将波段选择后的原始图像数据 用局部线性嵌入降维作 为偏最小二乘判别分析 的输入 变量 并建模．无信息变量 消除法与局部线性嵌入相结合算法和局部线性嵌入 降维方法得到的粉质化分 类测试准确度分别是 79．0 和 79．0 ；无信息变量消除法与平均反射法相结合和平均反射 法特征 提取得到的是 77．496／和 75．8 ．结果表明，无信息变量消除法与局部线性嵌入想结合 的方法可以 大大地降低高光谱散射图像的数据量，同时保证 了分类准确度 ，为在线检测、分类和高光谱数据的 存储提供 了一种实时、有效的方法． 关键词 ：粉质化 ；高光谱散射 图像 ；无信 息变量消除法；局部线性嵌入法；偏最小二乘判别分析 中图分类号：o657．3 文献标识码 ：A doi：10．3788／gzx1132 特征波段进行选择 ，在此基础上，利用选择的特征波 0 引言 段构建 数 据矩 阵 ，并 采 用局 部线 性 嵌 入方 法 苹果的粉质化是指苹果非正常软化、汁液减少 (LocallyLinearEmbedding，LLE)_9]，对数据矩阵 和果肉质地发棉等一系列生理失调现象，它是苹果 进行特征提取．实验结果表明：采用无信息变量消除 内部品质如硬度、糖度和汁液含量等参量的综合指 法与局部线性嵌入相结合的方法 (UVE—LLE)可显 标．传统 的基于人工 品尝 的苹果粉质化测量方法具 著降低高光谱漫反射图像的特征波段 ，其分类结果 有对人员依赖性强 、对苹果 的破坏性 等特点而难 以 要优于全波段条件下的平均反射特征提取方法． 在线运用．研究苹果粉质化 的无损测量方法 已成为 1 实验材料与数据采集 国内外的一个重要课题 ，出现了多种苹果粉质化的 无损测量方法口。]．高光谱散射图像技术是美国科学 1．1 苹果样本和高光谱系统 家 Lu提出的一种无损测量农产品内部品质的新方 实验使用的580个 “RedDelicious”苹果样本中 法 ，已被成功地用于苹果内部的糖度、硬度等成分预 180个样本采摘于美 国密歇根州立大学 (Michigan 测 [4j．本课题组利用高光谱散射 图像 技术 ，并结合 StateUniversity，MSU)的教学研究 中心，并存 储 平均反射特征提取方法 (meanreflectance，MEAN) 在一定 的条件下 (2 O ，3 CO。和 0C)；剩下的 对苹果的粉质化分类进行 了初步的研究 ]．但是这 400个 苹果 样本 买 自当地 的商 店 (Commercial 种方法存在两个问题 ：1)高光谱散射图像波段多，存 Packinghouse，CP)．总的样本被分为两个部分 ：240 在大量冗余信息波段，给在线的实时运用带来困难； 个样本(180来 自CP，60