HFPECVD法沉积BN薄膜及其生长机理的研究.pdfVIP

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维普资讯 第22卷 第6期 材 料 科 学 与 工 程 学 报 总第92期 V01.22 No.6 JournalofMaterialsScience&Engineering Dec.2004 文章编号 :1040-793X(2004)06-0847-04 HFPECVD法沉积BN薄膜及其生长机理的研究 董 博。张溪文。韩高荣 (硅材料国家重点实验窒。浙江大学材料系。浙江 杭州310027) 摘【 要】 本文介绍了用HFPEcvD(hotfilamentplasmaenhancedchemicalvapordeposition)法制备BN薄膜。通过红外 吸收谱和x射线衍射图谱分析确定,射频功率和反应气体(N)气流量显著影响薄膜中立方相 BN(c-BN)的相对含量。当 射频功率小于200W时,薄膜中立方相的相对含量随它的增加而增大 ;而 当射频功率大于200W时,则随它增加而减小。 当N气流量增加时,薄膜生长速率增加,但立方相的相对含量却减少。最后通过对不同沉积时间样品的红外吸收谱的 分析对BN薄膜的生长机理进行了探讨。 【关键词】BN薄膜;射频功率;气流量;机理 中圈分类号:TB43 文献标识码:A BN FlimsDepositedbyHFPECVD andtheMechanism oftheProcess DONG Bo,ZHANG Xi-wen,HAN Gao-rong (StateKeyLab.ofSiliconMaterial,ZhejisngUniversity,Hangzhoe310027,China) A【bstract】BNfilmsweredepositedbyHFPECVD(hotfilamentplasmaehnancedchemicalvapordeposition).Thesutdyofinfrared absorptionpatterns(IR)nadX—raydiffractiondiagrams(XRD)ofthefilmsrevealshtathtefractionofcubicboronnitride(C-BN)iSStrongly dependedonhteeffectofr.f.powerandhteflowratioofN2.Whenr.f.powerlowerthan200W ,htefractionofcubicboronnitrideincreases witIIhtepowerincreasing;whilewhenr.f.powerhigherhtna 200W ,itdecreaseswiht htepowerincreasing.Wiht hteincreasingofhteflow ratioofN2hterateofgrowthofhtefilmsincreases,howeverthefractionofcubicboronnitride(c_BN)decreases.Atlastweinferedhte mechanism ofc-BNformationbyhtestudyofIRofhtefilmsdepositedbydifferenttime. K【eywords】 BNfimls;r.f.power;hteratioofgas;mechanism 采用热丝辅助等离子增强化学气相沉积法制备 BN薄 引 言 膜 ,衬底采用经过超声处理的Si(100)基片。以N、H:以及 由H 稀释的B2H6(B2H6/H l%)作为反应气源,N 和 H 立方氮化硼是一种典型的Ⅲ一v族化合物 ,它拥有许多

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