浅谈集成电路的测试技术.pdfVIP

第N 卷第! 期 无 锡 职 业 技 术 学 院 学 报 RC@I N ,CI ! !# 年# 月 OC7?21@ CH P7Q0 92=;0;7; CH +D2C@C3B O72I !# 浅谈集成电路的测试技术 谈向萍，俞云强 （无锡职业技术学院* 江苏* 无锡* !% ! ） 摘要：集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。该文从集成电路测试的过程概述性地介绍了集成电 路的测试技术和集成电路的自动测试系统。 关键词：集成电路测试；测试仪；自动测试系统 中图分类号： +,%-* * 文献标识码：.* * 文章编号：#- $-(( （!# ）$#$#-$! ! #$% ’())%*+ (* ,%-.*(/(01 ( 2’ ,%3+ +., /0123$4023 ，56 572$80123 !43+#5-+ ：9: ;=; 0= 1= ?0;01@ AB 1= ;C =7? ;D 8712;0;B 12E ;D EF@C4G2; CH 9: I . F?B J?0H =7G$ G1?B CH ;D 4?C== CH 9: ;=; 12E ;D ;D2C@C3B CH 9: ;=; 02 ;D0= 414?I .@=C ;D 17;CG1; ;=; =B=;G 0= 02$ ;?CE7E 02 ;D 414?I 6%1 7(#839 9: ;=;K 9: ;=; G1=7?G2;K 17;CG1;E ;=; =B=;G 进行测试，在测试过程中，还要模拟多个环境反复测试， * * 一、引言 列出电路参数的规范，也叫特性测试。 * * 随着集成电路技术的飞速发展，集成电路的设计和 ! I 生产性测试：生产测试是在产品设计完成后，投入 制造要求越来越高，集成电路的测试也越来越复杂。线 生产运行，批量产品出来以后在常温的环境下进行的，它 路的设计和工艺参数的确定是一门高新技术，而集成电 没有特性测试全面。但是一定要判别出产品是否合格， 路的测试技术同样是集成电路产业发展重要支撑之一。 为了节约测试成本，（测试时间、硬件成本等等），不一定 对于设计完成的电路，生产出来以后一定要进行测 覆盖所有的电路功能和数据类型，只要做通过M 不通过的 试，只有经测试确定为良品，才能出厂用于各类电子产品 判别就可以了。 当中。产品如果没有通过测试，一定有其失效的原因，可 LI 老化测试：通过生产性测试的产品并不是完全一 能包括： I 测试方法本身有错误；! I 加工工艺有问题；LI 致的，在实际应用当中，有些会很快失效，而有些会在很 电路设计存在错误；% I 所定的测试规范有问题；等等。如 长时间正常工作。老化测试是通过一个长时间的连续或 果测试过程是良品，而实际使用电路时出现问题，则同样 周期性的测试使不耐用的器件失效，从而确保老化测试 说明测试有问题。测试的作用是检验是否存在问题，测