- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
第 卷第 期 重庆邮电大学学报 自然科学版
年 月
基于二维数值仿真技术的局部场氧化形状建模
陈晓敏
成都工业学院信息与计算科学系四川 成都
摘 要通过工艺仿真软件 对 中常用的硅局部场氧化 技术所生
成的 鸟嘴 图形进行了仿真 提出了一种形状模型 随后利用最小二乘拟合法得到相对应的参数 拟合误差为
并最后以分段函数的方式给出了模型的表达式 该模型可以使 鸟嘴结构更加方便应用于半导体器件的数值
仿真和设计
关键词 工艺仿真 硅局部场氧化 形状模型 最小二乘拟合 分段函数
中图分类号 文献标识码 文章编号
引 言
阈值电压的调整也称窄沟效应 对功率器件横
硅局部场氧化 向电场的调节等
技术是硅基 工艺中实现隔离的重要技术之 虽然很多半导体仿真软件将工艺仿真和器件仿
一 特别是对于一些晶体管尺寸要求不是很高的 真融为一体但工艺仿真较为复杂增加了半导体器
芯片中例如功率 由于其简单易控制的特点 件的设计周期 本文提出了一种估算鸟嘴形状的简
被大量使用 技术也大量用于横向功率器 易模型可以根据该模型计算出鸟嘴的基本参数直
件的场板技术 中可大大降低结边缘的电场从 接应用于半导体器件的仿真以及估算中去大大节
而提高功率器件的击穿电压和可靠性 约了设计时间
由于氧化的各向同性以及氧化硅与氮化硅之间
工艺流程及提出的形状模型
的应力作用 技术生成的氧化层被称作的鸟
嘴 鸟嘴结构的存在对于器件性能具有显著的 工艺分为 个步骤 氮化硅的淀积及
影响 如其对金属氧化物半导体场效应晶体管 刻蚀 氮化硅的作用是做氧气扩散的掩模版 氮
收稿日期 修订日期
第 期 陈晓敏 基于二维数值仿真技术的局部场氧化形状建模
文档评论(0)