高性能磁头飞行高度的数字化测量.pdfVIP

维普资讯 电子计算机 外部设备 1989年第 5期 高性能磁头飞行高度的数字化测量 上海交通大学121~究中心 张 菡 施文康 陈文元 内容提要t奉文介绍7高性能磁盘驱动器 中记录磁头飞行高度 的最新数字化 测量技术。该项技术基于 白光干涉原理，借助于分光辐射谱仪及与 IBM PC机相 联 的数字化处理过程，对彩色干涉条纹及与其对应 的飞行高度进行实时、 自动 的 判读和计算。拳文还 币1甩j 巳采甩这项技术的美 目Mcgnl公司M502型飞高测试仪 对 高性 能磁 头的飞行 高度进 行 了测量，从而可 掌握磁 头I作 时的飞行情 况，为进 一 步研究、开发 高性能的磁盘驱动器提供 7有利条件 。 一 ， 前官 现代计算机按术的迅速发展要求磁盘驱动器的记录密度不断提高，降低磁头的飞行高 度 (即头盘间隙 )是提高记录密度的措施之一。 目前，磁头飞行高度 已下降 到 0．5—0．2 m。为了精确测量这一微小高度，常用单色光或 自光干涉法，即用玻璃盘代 替 磁 盘，利 用两柬分别来 自玻璃盘下表面及磁头浮动块表面的反射光所产生的干涉条纹来测量。 干涉测试技术是以光波干涉原理为。基础进行测试的一门技术，它比一般的光学成象测 试技术具有更高的测试灵敏度和精度。而且，绝大部分的干涉测试技术都是非接触式的， 不会给被测件带来表面损伤和附加误差。 由于使用单色光测量的精度有限，一般只适合测量l~3um 常见的飞行 高 度 测试仪 主要是采用白光干涉法，由白色光源 (白炽灯)与显微镜组成，白光透过玻璃盘垂直地照 射在浮动块上，观察浮动块表面与玻璃盘表面的两束正反射光所形成的彩色干涉条纹。浮 动间隙根据牛顿色尺来确定，而对干涉条纹则需^眼仔细监视，以确定磁盘工作速度下的 彩色条纹是哪一级的何种颜色，进而确定 间隙值。此法可测量小于 1m的稳态 间隙。 进入六 、七十年代 以来，干涉伐与电子计算机的结合 促使干涉技术向数字化及 自动 化方 向进一步发展，选种结合能实现干涉条纹的实时 自动分析。同时，计 算机采用适当的 存储方式来消除干涉仪本身的误差及人为因素带来的误差，从而也进一步提高了测试的灵 敏度和精度 一 ， =、飞行高度的数字化测量技术 近年来出现的一种新型的飞行高度测试技术，同样基于 白光干涉原理，但同时借助于 先进的分光辐射谱仪~．IBM PC机，对干涉条纹 的光谱信息造行数字化分析 处 理，实现了 · 31 · 维普资讯 行高度的 自动化测量。 下面 美国McgiU公司生产的M5O2型飞行高度测试仪为例，说明其工作原理与测试技 术 。 1．基本测试原理 早期的飞行高度测试仪依靠操作人员根据牛顿 色尺主观估计记录磁头在玻璃盘上的飞 行高度值 ~M5o2型数字化飞高测试仪却利用了一个先进的分光辐射谱仪 系 统，在 光谱 图象分离以后，由一个平行探测摄谱系统来采集并分析干涉图象的光谱 。获得的光谱信息 首先 由分光辐射谱仪 (Spectroradiometer)按2nm(纳米)的间隙划分，得到可见光范围内的 170 个有关颜色干涉型式的信息的离散值。然后输入到IBM Pc机，井进行分 析。这 里，软件 可以估计正确的光学量级，并且对飞行高度作一初步的估算。 下一步，由软件产生一个理论上的关于间隙的理想曲线，在 170个测量点的每一个点 上都将测得曲线与理想曲线相比较，并计算出标准偏差，以表明两者相吻合的程度。很明 显，这项技术可以基于光谱 曲线对飞行高度作出170次离散估算，而不仅仅是一次，从而 可免除一些随机误差。 人眼对颜色的辨别力是有限的。佣如，一个12微英寸的间隙所产生的明亮颜色看起来 与23微英寸的间隙所产生的蓝色差不多，但是，这两种间隙所产生的光谱 曲线却很不相同 (如