晶体管测量仪毕业论文.docVIP

毕业论文（设计） 晶体管测量仪 院 系 航空电子电气工程学院 专 业 电气自动化 班 级 电气1102 学 号 201100142040 姓 名 陈卓毅 指导老师 钟川桃 2014年 4月 25 日 诚 信 声 明 本人郑重声明：所呈交的大专毕业论文（设计），是本人在指导老师的指导下，独立进行研究所取得的成果。尽我所知，除了设计（论文）中特别加以标注和致谢的地方外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果。本人完全意识到本声明的法律结果由本人承担。 毕业论文（设计）作者签名： 陈卓毅 2014 年4 月25 日 目 录 目 录 III 第一章 晶体管测量仪系统的设计要求以及原理 1 1.1晶体管测量仪系统设计要求 1 1.1.1晶体管测量仪系统设计原理 1 1.2晶体管测量仪的硬件设计 2 1.2.1放大系数的计算 2 1.2.2仪表放大器 3 1.3 极行判别电路 4 1.4 系统整体框图 5 第二章 晶体管测量仪的系统调试 8 2.1单片机最小系统的程序原理图及调试 8 2.2系统部分的调试 12 2.3晶体管型号判断程序调试 13 2.4示波器的使用 16 附录 19 设计总结 20 参考文献 21 致谢 22 摘 要 晶体管的出现在电子器件的历史上具有划时代的意义，在当今社会的重要性更是不容忽略，它实际上是所有现代电器的关键活动元件，因而研究测量其参数的测试仪器的具有重大的意义。 晶体管在当今社会的重要性，主要是因为晶体管可以使用高度自动化的过程，进行大规模生产的能力，因而可以不可思议地达到极低的单位成本。 虽然数以百万计的单体晶体管还在使用，但是绝大多数的晶体管是和电阻、电容一起被装配在微芯片（芯片）上以制造完整的电路。在控制电器和机械方面，晶体管电路也正在取代电机设备，因为它通常是更便宜、更有效地，仅仅使用标准集成电路并编写计算机程序来完成同样的机械任务，使用电子控制，而不是设计一个等效的机械控制。 因为晶体管的低成本和后来的电子计算机、数字化信息的浪潮来到了。由于计算机提供快速的查找、分类和处理数字信息的能力，在信息数字化方面投入了越来越多的精力。 本文阐述了可测量晶体管放大倍数、判别晶体管型号的仪器原理，介绍如何用AT89S52单片机实现判别晶体管型号（NPN/PNP）、测量晶体管放大倍数,误差不超过10％、同时在示波器上显示晶体管的特性曲线。分析各个部分的工作原理，并给出了原理图和源程序。 关键字：晶体管，放大倍数，单片机  Abstract The importance of transistor in todays society, Transistor characteristics depicting instrument is a kind of CRT display a variety of semiconductor devices characteristic curve, and can measure the static parameter test instrument. Its strong function, convenient operation, engaged in the semiconductor tube mechanism and semiconductor in radio applications, it is essential to test tool.Transistor measuring apparatus is a universal electronic measurement instrument for technical basis, with a semiconductor device for measuring obj