第05章颗粒污染物控制技术基础准.pptVIP

第五章 颗粒污染物控制技术基础 1.粉尘的粒径及粒径分布 2.粉尘的物理性质 3.净化装置的性能 4.颗粒捕集理论基础 第一节 颗粒的粒径及 粒径分布 1、颗粒的粒径 显微镜法 显微镜法观测粒径直径的三种方法 显微镜法 定向直径dF（Feret 直径）：各颗粒在投影图中同一方向上的最大投影长度 定向面积等分直径dM（Martin直径）：各颗粒在投影图中同一方向将颗粒投影面积二等分的线段长度 投影面积直径dA（Heywood直径）：与颗粒投影面积相等的圆的直径 Heywood测定分析表明，同一颗粒的dFdAdM 颗粒的粒径 筛分法 筛分直径：颗粒能够通过的最小方筛孔的宽度 筛孔的大小用目表示－每英寸长度上筛孔的个数 光散射法 等体积直径dV：与颗粒体积相等的球体的直径 沉降法 斯托克斯（Stokes）直径ds：同一流体中与颗粒密度相同、沉降速度相等的球体直径 空气动力学当量直径da：在空气中与颗粒沉降速度相等的单位密度（1g/cm3）的球体的直径 颗粒的粒径 粒径的测定结果与颗粒的形状有关 通常用圆球度表示颗粒形状与球形不一致的程度 圆球度：与颗粒体积相等的球体的表面积和颗粒的表面积之比Φs（ Φs1） 正立方体Φs＝0.806， 圆柱体Φs＝2.62(l/d)2/3/(1+2l/d) 颗粒的粒径 某些颗粒的圆球度 2、粒径分布 粒径分布：不同粒径范围内颗粒的个数（或质量或表面积）所占的比例 个数分布: 每一间隔内的颗粒个数 个数频率：第i个间隔中的颗粒个数ni与颗粒总数Σni之比 个数分布 个数筛下累积频率：小于第i个间隔上限粒径的所有颗粒个数与颗粒总个数之比 个数分布 个数频率密度 粒数分布的测定及计算 个数分布 众径：频度p最大时对应的粒径，此时 个数中位径（NMD）：累计频率F=0.5时对应的粒径 质量分布 类似于数量分布，也有质量频率、质量筛下累积频率、质量频率密度等 在所有颗粒具有相同密度、颗粒质量与粒径立方成正比的假设下，粒数分布与质量分布可以相互换算 同样的，也有质量众径和质量中位径（MMD） 长度平均直径 表面积平均直径 体积平均直径 表面积－体积平均直径 平均粒径（续） 几何平均直径 对于频率密度分布曲线对称的分布，众径 、中位径 和算术平均直径 相等 频率密度非对称的分布， 单分散气溶胶， ；否则， 4、粒径分布函数 频率密度 筛下累积频率 标准差 正态分布是最简单的分布函数 （1）频率密度分布曲线为对称的钟形曲线 （2）累计频率曲线在正态概率坐标纸上为一条直线，其斜率取决于σ 正态分布函数很少用于描述粉尘的粒径分布，因为大多数粉尘的频度曲线向大颗粒方向偏移 正态分布的累积频率分布曲线 以lndp代替dp得到的正态分布的频度曲线 符合对数正态分布的累计频率曲线在对数概率坐标纸上为一直线，斜率决定于几何标准差 对数正态分布的累积频率分布曲线 可用 、MMD和NMD计算出各种平均直径 若设 得到 一般多选用质量中位径 或 判断是否符合R－R分布 应为一条直线 R－R的适用范围较广，特别对破碎、研磨、筛分过程产生的较细粉尘更为适用 分布指数n1时，近似于对数正态分布； n3时，更适合于正态分布 第五章 颗粒污染物控制技术基础 1.粉尘的粒径及粒径分布 2.粉尘的物理性质 3.净化装置的性能 4.颗粒捕集理论基础 第二节 粉尘的物理性质 单位体积粉尘的质量，kg/m3或g/cm3 粉尘体积不包括颗粒内部和之间的缝隙－真密度 用堆积体积计算——堆积密度 空隙率——粉尘颗粒间和内部空隙的体积与堆积总体积之比 粉尘的安息角与滑动角 安息角：粉尘从漏斗连续落下自然堆积形成的圆锥体母线与地面的夹角 滑动角：自然堆积在光滑平板上的粉尘随平板做倾斜运动时粉尘开始发生滑动的平板倾角 安息角与滑动角是评价粉尘流动特性的重要指标 安息角和滑动角的影响因素：粉尘粒径、含水率、颗粒形状、颗粒表面光滑程度、粉尘粘性 粉尘的比表面积 以自身体积表示的比表面积 以质量表示的比表面积 以堆积体积表示的比表面积 粉尘的含水率 粉尘中的水分包括附在颗粒表面和包含在凹坑和细孔中的自由水分以及颗粒内部的结合水分 含水率：水分质量与粉尘总质量之比 含水率影响粉尘的导电性、粘附性、流动性等物理特性 平衡含水率：气体的每一相对湿度，都相应粉尘一定的含水率。 粉尘的润湿性 润湿性－粉