通过加速老化实验对LED器件可靠性的研究.pdfVIP

2011绿色照明与科学发展科技研讨会暨第四届中日韩照明大会 通过加速老化实验对LED器件可靠性的研究 陈宇1黄帆2严华锋1殷录桥2张建华2李志君1 (1上海亚明灯泡厂有限公司) (2上海大学机电工程与自动化学院) 1．引言 与传统的照明光源(白炽灯、荧光灯、高强度放电灯)相比，LED由于具有节能、高效、 寿命长、抗震、体积小、响应速度快等优点，大功率LED器件得到了越来越广泛的应用，市 场潜力逐渐变大。作为一种新型的照明光源，大功率LED照明产品将成为继传统照明光源之 后的新一代照明光源【l】。然而，在众多的LED照明产品中，产品质量良莠不齐，其中问题之 一是LED器件的可靠性。LED光源与灯具的可靠性问题阻碍了其进入通用照明的步伐【2】。LED 产品的可靠性，是决定其能否进入通用照明的关键因素之一。研究人员们对LED可靠性做了 大量的研究工作，常见的寿命试验方法有普通条件外推法、温度加速寿命实验法、电流加速 寿命实验法，由于普通条件外推法周期非常长，一般多采用温度加速寿命实验法和电流加速 寿命实验法。 分布和光电参数的变化，对老化过程中发光强度的变化做作了一种解释，认为是有源层中的 Mg．H