精密光机公司SPC培训教材

計量型控制圖的做法 數據收集的原則 數據收集是一項重要的基礎工作,為了給品質管理工作提供可靠的準確的情報,搜集數據時,必須遵循以下原則: 隨機抽樣 數據的分層(人員別.機台別.加工方法.時間.材料.環境.其他) 明確數據收集的目的和方法 做好數據記錄,保證數據真實.可靠.準確 計量型控制圖的做法 均值---極差控制圖 計算方便,適合於現場生產過程控制 1. 收集數據 (1) 選擇子組容量.子組個數輿子組間隔 子組容量n: 4~5個為宜 子組個數K: 20~25個為宜 子組間隔: 視產量而定 (2)按合理子組原則在生產線上抽樣並測量 (3)記錄測量數據(標示清晰) (4)計算每個子組的均值X和極差R X= X1+X2+---+Xn n R= Xmax-Xmin (5)描點 (6)連線 計量型控制圖的做法 均值---極差控制圖 計算方便,適合於現場生產過程控制 2. 計算控制線 (1) 計算K個子組均值的平均值 (2)計算K個子組極差的平均值 (3)計算X圖的上.下控制限 (4)計算R的上.下控制限 X= X1+X2+---+Xn K (5)画線(中心線:實線;上.下控制限:虛線) R= R1+R2+---+Rn K UCLx= X+A2R LCLx= X-A2R UCLR=D4R LCLR=D3R 計量型控制圖的做法 均值---極差控制圖 計算方便,適合於現場生產過程控制 3. R圖的分析 (1) 在R圖上檢查所有極差點有無超出控制限 (2) 若有異常,查明原因後可剔去異常子組,重新確認 從R圖中剔去任一子組,也應從X圖中剔去,重新 計算中心線和上.下控制限 (4) R圖受控後,就可轉入X圖的分析 4. X圖的分析 8條判異原則 發現異常,及時處理; 先自己,后他人;先內部后外部 計量型控制圖的做法 均值---標準差控制圖 過程偏差的計算比X-R控制圖更精密 1. 計算控制線 (1) 計算每個子組的均值X和標準偏差S (2)計算K個子組均值(標準差)的平均值 (3)計算X圖的上.下控制限 (4)計算S圖的上.下控制限 X= X1+X2+---+Xn n (5)画線(中心線:實線;上.下控制限:虛線) UCLx= X+A3S LCLx= X-A3S UCLS=B4S LCLS=B3S S= Σ n -1 (Xi-X)2 X= X1+X2+…+Xk K S= S1+S2+…Sk K CLx=X CLs=S 子組容量n≧10,一般取10,子組個數K以20~25個為宜 計量型控制圖的做法 中位數---極差控制圖 1. 中位數與平均值同樣可以代表一群數值 2. 將測定值由小到大排列 中位數的算法 3. 當N為奇數時,其中間一位為中位數 4. 當N為偶數時,其中間二數值的平均數為中位數 例: 1.99 2.00 2.01 2.02 2.02 中位數:X=2.010 例: 1.99 2.00 2.00 2.01 2.02 2.02 中位數:X= 2.00+2.01 2 =2.005 中位數計算方便,很多場合取代平均值 子組容量n一般為5,子組個數K以20~25個為宜 計量型控制圖的做法 中位數---極差控制圖 1. 收集數據 2. 計算每個子組的中位數和極差 3. 計算K個子組中位數的均值 4. 計算X圖的上下控制限 5. 計算R圖上下控制限 UCLx= X+A4R CLx=X LCLx=X-A4R UCLR=D4R LCLR=D3R CL=R 計量型控制圖的做法 單值---移動極差控制圖 1. 收集數據 2. 計算移動極差MR 3. 計算均值與移動極差均值 4. 計算X圖的上下控制限 5. 計算MR圖上下控制限 UCLMR=D4MR LCLMR=D3MR 適用於不可重複測量數據的樣本,如化工行業或 者樣本數較難獲得的情況 MR=Xi+1-Xi X= X1+X2+…+Xk K MR= MR1+MR2+…+MRk K UCLx=X+E2MR LCLx=X-E2MR 子組容量n=1,子組個數K以20~25個為宜 SINTAI NORTH 信泰諾斯精密光機有限公司 定義: SPC(Statistics Process Control):統計過程控制 運用統計的手法對產品生產過程進行控制 SPC控制圖是將顯著檢驗的統計原理運用於控制生產過程的一種圖形方法. SPC的目的: 過程控制,發現異常及時處理,減少浪費和損失! 1)”在一切製造過程中所呈現出來的變異有兩個分量.第一個分量是過程內部引起的穩定分量,即正常變異;第二個分量是可查明的間斷變異,即異常變異.” 2)”那些可查明原因的變異可用有效方法加以發現,並可被剔去,但正常變異不會消失,除非改變基本過程.”