用于工业材料分析的偏振敏感光相干断层成像术摘要光.docVIP

用于工业材料分析的偏振敏感光相干断层扫描成像术 摘要 光相干断层扫描成像（OCT）是针对大多高散射性物质的，非接触式，非侵入型检查的一种独特技术。在光相干断层扫描成像中引进偏振状态分析能对工业材料进行研究观察。偏振敏感光相干断层扫描成像（PS-OCT）不仅能检测到物质内部结构，还能探测局部光学各向异性的特点。本文介绍了光相干断层扫描成像（OCT）的原理及其改进装置：偏振敏感光相干断层成像（PS-OCT），其中主要介绍了PS-OCT的实验装置及其在物质内层结构检测中的应用，对透明的和高散射性的物质的检测结果也有介绍。 关键词：光相干断层扫描成像（OCT ）； 偏振敏感光相干断层扫描成像（PS-OCT）； 偏振测定法； 工业材料检测 引言 关相干断层扫描成像（OCT）是一种对物质内部结构进行高效，高敏感性检测的新的光学技术。利用OCT，我们可以对大量生物和工业材料进行非接触式，非侵入性检测。如今，OCT广泛应用于医学，特别是眼科学，皮肤医学，口腔医学，内窥镜检查学。但OCT的优点使其不仅能应用于医疗方面，还能应用于工业材料检测。早期关于OCT的研究主要集中于时域低相干光干涉测量。随后，一些新的能在时域或频域进行干涉信号处理的OCT技术发展形成了。依据这些技术的应用，可以将其分为时域光相干断层扫描成像（TD-OCT），多普勒光相干断层扫描成像（D-OCT），和光谱域方法如傅立叶域光