利用呢l型电桥对角线法测量串级.docVIP

变压器局部放电测量中的电气回路分析按照《电气设备预防性试验规程》的要求，变压器、互感器、套管等主要一次设备在交接和大修之后，都要进行局部放电测量。所谓局部放电，是指电气设备内部绝缘由于局部绝缘下降，在交流高压下所发生的局部电气放电。目前，局部放电的电测法主要有三种：脉冲电流法、无线电干扰法和放电能量法，而其中的脉冲电流法在生产中的应用最为广泛。交流脉冲电流法的局放测试原理，就是通过间接测量电气设备局部放电量的大小来判断其绝缘状况。局部放电量越大，则说明电气设备内部的放电越严重，但是，仅仅只通过一个测量结果，试验人员也无法对被试部位的绝缘就作出唯一的判断，因为，许多情况下，局放测试结果是一个各种因素形成的综合数值，通常它包括三个方面的测试量：被试部位局放量、非被试部位影响局放量及内、外部电磁场等干扰局放量。在我国有关的规程和专业书籍中，关于局放测量中抗干扰的方法已介绍的较多，本文从非被试部位局放信号对试验结果产生的影响入手，重点分析变压器局放试验的电气回路。 一、局放测试基本回路 用脉冲电流法测量局部放电的视在放电量，国际上推荐的有两类基本测试接线：在干扰信号较大的局放测量中，常采用平衡法进行抗干扰测量，但由于各种因素的限制，平衡法的灵敏度较低，生产中应用较少；对于干扰信号较小时，实践中大多采用直接法测量，其局放接线又包括：串联法和并联法。 1、串联法 1）试验接线 U－试验电源 Zf—高频滤波器 Cx—试品被试部位Ck—耦合电容器 Zm—测量阻抗 M—局放仪 Ia、 Ib—局放电流信号 2）电气回路分析 由图2－1可以看出：试品Cx与测量阻抗Zm为串联关系，假若Cx内部出现局部放电，则可把Cx看成一个高频信号源，它和电源构成电路中两个独立的信号源，独立形成自己的电流回路。局放信号源的电流回路为：支路一为Cx---Ck---Zm---Cx的Ia电流回路；支路二为Cx--- Zf ---电源高压绕组---Zm ---Cx的Ib电流回路。由于电源高压绕组和高频滤波器Zf都对局放高频信号的阻塞作用，使电流Ib的数值大为减小；而Ia电流则由于Ck的耦合作用使之数值较大。但不管怎样，局放信号Ia和Ib都通过测量阻抗Zm，所以，只要试品Cx内部发生局部放电，局放检测仪就能准确地反映出来。 对测量阻抗Zm而言，通过它的电流信号不仅包括Ia和Ib，而且还包括较大的试验电源电流（此电流可能是工频也可能是倍频），总电流若超过Zm允许通过的额定电流，则会因此而烧毁检测仪器，而试验电源电流大小与又于试品等值电容成正比关系（I=ωCU2），所以，当大电容试品进行局放试验时，不宜采用串联法进行测量，而当对小电容试品进行试验且两端都能对地绝缘时可采用此法。 2、并联法 l）试验接线 U－试验电源 Zf—高频滤波器 Cx—试品被试部位 Ck—耦合 电容器 Zm—测量阻抗 M—局放仪 Ia、 Ib—局放电流信号 2）电气回路分析 由图2－2可以看出：试品Cx与测量阻抗Zm为并联关系，假若Cx内部出现局部放电，把Cx看成一个高频信号源后，则其信号源的电流回路也有两个，其一为Cx--Ck--Zm--Cx的Ia电流回路；其二Cx-- Zf --电源高压绕组--Cx的Ib电流回路。同样，由于电源高压绕组和高频滤波器Zf都对局放高频信号的阻塞作用，使电流Ib的数值大为减小；而Ia电流则由于Ck的耦合作用则较大。由于试品Cx局放信号只有Ia通过测量阻抗Zm，Ib电流虽然并不大，但此种接线在高频滤波器Zf滤波效果较差时，由于Ib电流对信号源的分流作用，会大大影响测试的灵敏度。 在此种接线中，测量阻抗Zm通过的电流信号为绝大部分局放电流Ia和较少部分的试验电流，大部分试验电流则通过：电源---Zf---Cx---电源回路，所以，对于试品测试部位有一端永久接地的测量，只能采用并联法，而对于大电容试品的测量，若可以采用串联法（试品测试部位两端绝缘），则应考虑通过Zm的电流是否大于其额定电流。 二、变压器局放试验 对于110KV及以上的半绝缘变压器，在进行局放试验时，因绕组和中性点绝缘等级不同，所以，应对绕组和中性点施加不同的试验电压分别进行考验。考虑到变压器铁心的磁饱和问题，一般情况下，试验电源通常都采用150HZ――200HZ的倍频电源进行试验；为降低试验设备的容量和便于判断故障所属相，变压器局放试验采用的是单相励磁感应耐压试验。采用感应耐压进行局放测量，不仅能反映变压器的主绝缘（绕组间及绕组对地绝缘），同时也可反映其纵绝缘（匝间、层间等绝缘）。 l、变压器绕组试验 1）利用耦合电容器测量 ①试验接线 Cx—绕组对地电容 Ck—耦合电容器 Zm—测量阻抗 ②电气回路分析 此接线属