CeO2掺杂氧化锌压敏阀片压敏电位梯度与显微组织的研究.pdfVIP

严群等：Ce02掺杂氧化锌压敏阀片压敏电位梯度与显微组织的研究 Ce02掺杂氧化锌压敏阀片压敏电位梯度与显微组织的研究半 严 群1，冯庆芬1，黄庆2，苏华3，谢显蛟3，涂铭旌1 3．成都科力铁硬质合金有限公司，四川成都618306) 摘要：采用添加微量Ce02的方法，提高氧化锌压敏锌避雷器的发展。然而氧化锌压敏阀片的几个性能指标 阀片的电位梯度，使之具有优良的综合性能．同时研究 又是此消彼长、相互矛盾的。本文采用添加微量Ce02 了微量Ce02添加剂对氧化锌压敏电阻片的压敏电位梯的方法，力求在不降低其通流能力及保持较低漏电流的 度的影响，并通过sEM测试手段对其微观组织结构进 前提下，提高氧化锌压敏阀片的电位梯度，使之具有优 行了分析研究，从理论上探讨了一Ce02影响氧化锌压敏 良的综合性能，减小体积，降低成本。 阀片压敏电位梯度与组织的机理。研究结果表明，在0一 2实验 O．06％(摩尔分数)成分范围内，随着ce02含量的增加， 氧化锌压敏阀片的压敏电位梯度明显提高；当Ce02含2．1样品制备 量超过0．06％(摩尔分数)时，随其含量的增加，氧化 锌压敏阀片的压敏电位梯度又呈降低趋势．其原因是 原料按常用微米级ZnO压敏阀片配方的比例称量，分 Ce02加入到氧化锌压敏阀片中，以原相形式独立存在 的ce02相钉扎在晶界，阻碍晶界运动，抑制了znO晶 分数)，具体配方见表l。将上述原料混合后，经干磨、 粒的生长：另一方面，Ce02添加剂在陶瓷烧结过程中 使znO晶体的自由电子浓度增大，填隙锌离子zIli的总 浓度下降，因而填隙锌离子的传质能力下降，抑制了 极。 zDO晶粒的生长，因而晶粒尺寸随Ce02的添加而下降， 表1试样的配方 压敏电位梯度显著提高． 关键词： 氧化锌压敏阀片；Ce02；压敏电位梯度；显 成分(mol％) 试样编号 微组织 ZnO Ce02Bi203Sb203Cr203C0203Mn02 中图分类号：．IM283 文献标识码：A 00l 0 O．7 1．O 0．5 0．8 0．5 余量 002 O．02 0．7 1．0 0．5 0．8 0．5 余量 文章编号： 1001．9731(2007)增刊．0567—03 003 0．04 O．7 1．O 0．5 0．8 O．5 余量 004 0．06 O．7 1．O 0．5 O．8 O．5 余量 1 引 言 005 O．08 0．7 1．O 0．5 0．8 O．5 余量 006 0．1 0．7 1．0 O．5 O．8 0．5 余量 氧化锌压敏瓷具有优异的伏．安特性，广泛用于制 2．2性能及组织结构的测试 造避雷器阀片。氧化锌压敏阀片优异的电性能是以各种 用MY乙3型压敏电阻全自动测试仪测量各试样的 添加剂的综合作用为基础的，它是典型的由晶粒大小、 压敏电位梯度UlmA，将测得的电性能参数进行对比分 晶界结构控制宏观性能的材料。为了能满足各种