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实验9 快中子全截面的测量 实验目的 掌握测量快中子全截面的方法。 实验内容 根据“好几何”条件，调整实验装置。 测定Al、Fe、Cu和Pb对Am-Be中子源中子的全截面和估计核半径。 对所测中子全截面进行误差修正。 原理 快中子全截面是核物理和核技术领域的一项基本参数。虽已有大量的测量数据，但有的精度低，有的能区不全，至今仍在测量中。 1．全截面是中子与原子核发生各种作用的截面的总和，可采用透射法进行测量。 测量时，待测样品放在中子源和中子探测器的中间，如图1所示。 设入射中子强度为I0，透射束强度为I，样品厚度为t，则投射率T为： （1） 式中，N为单位体积样品内的原子核数，σT为全截面。对于化合物，N为单位体积内的分子数，σT为分子对中子的有效全截面。 （2） 式中ρ为样品的密度，Ar为原子量或分子量，NA为阿伏加德罗常数。由（1）式可得： （3） 推导（1）式时假定样品很薄，NσTt1，中子在样品内与原子核只发生一次作用（散射和吸收），而且略去向前方向的散射，因而可以认为透射的中子是未与原子核作用过的。所以探测器对透射前后中子的探测效率是一样的，可用计数率表示中子束的强度。因此，测量透射率时，只要保持中子源到探测器的距离不变，I就是有样品时的计数率，I0就是无样品时的计数率。 2．实验布置要求符合“好几何”条件，即中子源、样品和探测器同轴，且样品阴影正好遮住探测器的前端面，如图2示。 图中，D0、D1 、D2分别表示中子源、样品和探测器的直径。L1、L2分别表示中子源到样品和探测器的距离。根据好几何条件可以得出： （4） 3．室内散射本底中子，会使投射率偏大。设本底计数率为Ib,则修正的投射率为 T=(I-Ib)/(I0-Ib) Ib学可用影锥法实际测定。影锥放在样品位置上，其形状也要符合“好几何”条件。影锥要足够长，使其投射率小于10－4。例如，石腊影锥的长度为40cm。 4．实际上，向前散射总是存在的。对于厚样品还存在多次散射。向前散射的影响是使测量的截面值偏小，因此实际的截面值应加修正项。 ＝ 在图2所示的好几何条件下，可以推导得单次散射得截面修正 式中，为向前方向弹性散射的微分截面。直接测定是困难的，可用Wick极限作近似估算。 式中k为波数，它与中子能量En有关。 5．选择最佳样品位置，不仅要求符合“好几何”条件，而且要求单次散射修正最小。将（4）式代入（7）式中，令L2、D2和D0为常数，对D1求导数，可得最小时的D1值（样品最佳直径），再代入（4）式，则得样品最佳位置 当?D1=D2=D0时，L1=L2/2,即样品放在中子源和探测器的中间位置。 6．根据光学模型理论： （5） 式中，R=R0Ar1/3，Ar为原子量，R0为基本核半径（约1.3×10-13cm），，λ为德布罗意波长。（5）式可以改写为： （6） 可见与Ar1/3之间存在线性关系。将实验测定的四种元素的σT与Ar1/3作图，或进行数据拟合，可以求得R0及。 实验装置 采用Am-Be中子源，强度为1Ci,中子产额为2.1×106n/s，外形为圆柱形，φ16×19mm，活性区为φ11×10mm。 探测器采用ST-207型ZnS(Ag)快中子屏，外形尺寸为φ40×20mm，探头采用FJ-374型γ能谱探头。计数装置采用FH-1901型通用γ谱议。 样品有Al、Fe、Cu和Pb四种，都采用圆柱体状。直径均为15mm,厚度不同。 实验仪器 NaI(Tl)闪烁σT值。 作与Ar1/3的关系图，确定基本核半径的值。 结果分析及数据处理 思考题 1、为什么实验布置一定要符合“好几何”条件？如果样品不放在符合“好几何”条件的位置上，对截面测量将会产生什么后果？ 2、如果对不同厚度的同一种样品进行全截面测量，截面值是否会随厚度而变？为什么？ 中子源 样品 探测器 I0 t I 图1 全截面测量示意图 图2 好几何条件 L2 L1 D0 D0 D0 探测器 样品 中子源 4 1 2 3 5 6 7 8 图3 全截面测量装置 1．中子源，2. 样品，3. 探头，4. 计数装置，5. 中子源贮存桶，6. 中子源升降架，7. 样品支架，8. 探头支架。