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第38卷 V61．38
增刊 金属学玫 Suppl．
ACTA SINICA
2002年9月694—696页 METALLURGICASept．2002
松散钛屑中微小夹杂x射线检验研究木
魏惠元 鲁阳 陈百锁 马小怀
(宝鸡有色金属加工厂，宝鸡721014)
摘 要 针对TC4合金钛锭生产中所用钛屑起弧料在X射线检验照相中所存在的难题，本文提出底片象质改善方法，并进行
了不同照相工艺对比实验．结果表明，采用小焦点尺寸的射线源、低速、微粒胶片，加用射线吸收块减小散射线剂量等技术措施，
mm的碳化钨高密度夹杂．
可提高底片对比度；对松装厚度为50—70mm的螺旋形卷状钛屑试样，可检测出颗粒尺寸为0．25
线
唇V
关中 键图 词法分X类射号 检T验@ 起G 钛8 ‰标识码 A
燃穆 蝌坫芦
INLooSE
X—RAYTESTINGoNSMALLINCLUSEIoNS
TITANIMCHIPS
WEI Xiaohuai
Baisuo，MA
Huniyuan，LU拖哪，CHEN
NonferrousMetal 721014
Baoji Works，Baoji
technician，Tel：(0917)3382365
Correspondent：WEIHuiyuan，senior
received2002——03——25
Manuscript
ABSTRACTInordertosolvethe in Ti asarc material
problemsX_raⅣtestingchips starting
offilm WaS the
in TC4 method imagingqualityproposed，and
meltingalloyingot，animproving
showthatthe
testofdifferent wascarried results
comparison imagingprocesses out．Experimental
smallfocal
film canbe when ofthe sourcewith
contrast X-ray
improvedadoptingtechniques point，
thefilm andsmall the bloc
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