半导体激光器特性测试中温度控制技术研究.pdfVIP

第22卷第4期 量子电子学报 V01．22NO．4 CHINESEJOURNALOF ELECTRONICS 2005年8月 QUANTUM Aug．2005 文章编号： 1007—5461(2005)04—0554—05 半导体激光器特性测试中温度控制技术的研究 杨明伟， 许文海， 朱炜， 唐文彦 (哈尔滨工业大学机械电子系， 黑龙江 哈尔滨 150001) 摘 要：温度特性是影响半导体激光器(LD)特性测试准确性的重要因素，对LD温度控制技术的研究有着 重要的意义。在分析了LD的温度特性的基础上，提出了一种高稳定温度控制的设计方案，并从几个方面讨论 了保证LD高稳定温度控制和保证温度信号检测、传输精度的方法。实验结果表明，在10℃一40℃范围内温 度稳定度为土0．01℃，在25℃时稳定度达到士0．005℃，从而为LD的准确测试提供了有效的保证。此系统 稍加改动即能广泛应用于各类LD的控温系统。 关键词： 激光技术；半导体激光器；自动测试；温度控制；比例积分控制 中图分类号：TN248．4 文献标识码：A 1 引 言 LD作为一种新型的光源，因其具有体积小、重量轻、高效率、低功率驱动、可直接调制等一系列优 点，已经越来越广泛的应用于通信、军事、医疗等领域，其质量和可靠性在应用系统中起着关键作用。LD 阶段进行测试，包括从最初的LD晶片阶段到最后完整组件阶段，参数测试的准确性将大大影响LD成品 率及质量。欲实现LD特性准确而快速的测试，需要解决几个关键技术，包括LD驱动控制技术、LD温 要研究内容。LD的工作温度变化对其工作特性有非常大的影响，因此，实际温度相对于设定温度点的稳 定性对于测试数据的好坏就有了决定性的影响。而目前报道的温度控制技术[1~3]性能还不能很好满足LD 测试的要求，在分析了LD测试中温度对LD各种特性参数的影响后，本文提出了一种保证LD高稳定度 温度控制和保证温度信号检测、传输精度的方法，最后给出了温度控制实验的结果。 2 LD测试中温度对各种特性参数的影响 半导体激光器需要进行测试的特性主要包括表示电抗特性的V—J(电压一电流)曲线、表示电光转化特 些曲线和数据用来分析激光器的特性，例如上一，曲线的扭折、非线性、斜率效率、串联电阻Rs和阈值电 流厶h等，从而作为研究、生产、供货的依据。而LD的特性对温度很敏感，温度的变化直接影响这些特 性，比如F，特性、P一，特性、纵模谱和可靠性等。下面从几个方面来分别讨论。 2．1温度与∥一，特性的关系 图1[41所示是一种典型的LD在不同温度下的结电压％与注入电流功关系曲线图。随温度的升高， 结电压降低，而且两者呈很好的线性关系。 2．2温度与尸一，特性的关系 线图。从图中可以看出： 1)在同一温度下，当厅小于某一个值时，P0约为零，而当超过该值时，P0随 五之增长呈直线上升关系，这个电流值称之为LD的阈值电流并用符号厶h表示。2)阈值电流随着温度 收稿日期：2004-07—27；修改日期：2004-09—06 E-maih yangmingwei@hit．edu．cn 万方数据 第4期 杨明伟等：半导体激光器特性测试中温度控制技术的研究 555 升高而升高，特性曲线基本上随着温度的变化而平移。3)如果LD在恒定的电流下工作，当环境温度发生 变化时，LD输出功率的变化将是很大的。 卜，l，●O O O ＼3嚣墨10=o；ucjI． O O CurrenffmA relationatdifferent Po一／Frelationatdifferent Vo—IF Fig．1 Fig．2