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加速环境下最佳预烧策略的一个广义模型 王洪庆1，2 ，胡黎霞1 1兰州大学数学与统计学院， 甘肃 兰州（730000 ） 2 武警警种指挥学院训练部， 北京 （102202 ） E-mail： wanghq_2005@ 摘 要：预烧 (Burn-in)是一种改善产品质量的方法。为了降低预烧的花费，预烧过程通常 在加速环境下进行，本文假设产品的失效包括两种失效类型并且产品的失效率函数是以传统 的浴盆形失效率以及修正浴盆形失效率函数为特殊形式的更一般的失效率函数，在加速环境 下得到了最佳预烧时间的上界。为了说明结论给出了一个数值例子。 关键词： 加速预烧； 最佳预烧时间； 浴盆形失效率函数； 最终递增失效率函数； 上界。 中图分类号：O212.2 1．引言 许多产品在早期具有较高的失效率，因此为了避免产品在实际应用阶段初期失效，我们 常采取预烧的办法提高产品质量。在预烧阶段失效的产品将被剔除或者维修，未失效的产品 被认为具有较高的质量，关于预烧知识的介绍可参见文献[10]，[13]。由于预烧时间过长会 对产品产生损害，过短起不到应有的作用，因此需要确定预烧测试所应持续的时间，即最佳 预烧时间。在对预烧测试的研究过程中，文献[3，5~9，15~ 17]分别考虑了不同的花费结构 以及一些基于产品效用的准则，并且研究了相应的最佳预烧时间。关于预烧较全面的论述可 参考文献[4] 。 文献[7]在研究过程中考虑了一个广义的失效模型。在此模型中存在两种失效类型，当 产品失效时，以概率 1-p (t ) 发生Ⅰ型(最小)失效，这种失效可通过最小维修进行修复，并且 最小维修不改变产品的失效率，也就是说经过最小维修的产品的失效率等于产品失效前的瞬 间失效率；以概率p (t ) 发生Ⅱ型(灾难性)失效，解决这种失效的办法只能是对产品进行完全 维修或者替换，经过完全维修或者替换的产品在概率意义上等同于一个新的产品。 如今，许多产品都具有较高的可靠度，其潜在的缺陷需要较长的时间来进行探测。为了 缩短预烧时间， Block和Savits[4]提出了在加速环境下进行预烧的方法。Cha [6]在加速环境下 提出了一个新的失效率模型。 本文在文献[7]中的失效模型及加速环境下，得到了失效率函数形状更一般的产品的最 佳预烧时间的上界。第二节介绍了一个更一般的失效率函数形状，并描述了加速环境下的失 效率模型；第三节得到了基于在加速环境下进行预烧测试的产品在实际工作阶段的某一最优 性能的最佳预烧时间的上界；第四节研究了在加速环境下进行预烧测试的产品在实际工作中 完成连续工作任务的最佳预烧时间；最后在第五节给出了一个数值例子。 -1- 2．更一般的失效率函数形状及失效率模型 2 ．1 更一般的失效率函数形状 研究人员与实践工作者的实验数据表明许多产品，特别是电子产品的失效率函数呈现浴 盆形状。即失效率函数最初递减，在随后的一段时间内维持相对不变，后期由于老化、磨损 等原因呈现递增的趋势。大量有关预烧的研究工作建立在浴盆形失效率函数之上，例如文献 [8，15，17]。 浴盆形失效率函数定义为 定义 1 一个失效率函数r (t) 称为浴盆形失效率函数，如果存在着0 ≤t0 ≤t1 ≤t2 ≤∞， 使得 ≤ ≤ ⎧严格递减， t0 t t1， ⎪ =≤ ≤ r (t ) ⎨常数， t1 t t2， ⎪