基于片外信号源SoC 低成本测试解决方案.docVIP

基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案* 钟伟宏1，刘炎华2，孙　玲2,3 （1.南通富士通微电子股份有限公司，江苏 南通 226019；2.南通大学，江苏省专用集成电路设计重点实验室，江苏 南通 226019；3.计算机体系结构国家重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190） 摘　要：测试已经成为SoC设计过程中必不可少的步骤。随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高，其测试变得越来越复杂，测试成本也越来越高。按照目前的发展趋势，测试成本将有可能超过芯片自身的设计和制造成本，如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。卫星数字电视信道接收芯片作为机顶盒关键芯片之一，对低成本测试的要求也越来越迫切。本文针对某卫星数字电视信道接收芯片，通过分析该芯片的内部模块功能，采用片外信号源方法设计该芯片的低成本测试方案，并在自动测试系统T6575上实现。实际生产结果表明，本方法能极大降低芯片测试成本。 关键词：片上系统；片外信号源；低成本；自动测试系统 中图分类号：TP302.8 　 文献标识码：A　　 文章编号：1681-1070（2012）11-0001-03 Introduction of Low Cost SoC Testing Scheme Based on Off-chip Signal Source ZHONG Weihong 1, LIU Yanhua 2, SUN Ling2 ,3 （1. Nantong Fujitsu Microelectronics CO., LTD Nantong 226019, China; 2. Jiangsu Key Lab of ASIC Design, Nantong University, Nantong 226019, China; 3. State Key Laboratory of Computer Architecture, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China） Abstract: Testing is an indispensable step in SoC design. With the continuously increasing in chip complexity and transistor density, the cost of chip testing is also increasing and even exceeds the cost of design and manufacturing. How to decrease the testing cost has become hot research area. Channel receiver chip of satellite digital television, as one of key components in set-top box, has growing requirement for the low cost testing. In this paper, a low cost testing scheme based on off-chip signal source is proposed by analysing the internal module, working principle and characteristics of the chip, which is implemented on ATE T6575. The results of production demonstrate that the proposed testing scheme can obviously reduce the testing cost of the chip. Key words: SoC; off-chip signal source; low cost; ATE  1 引 言 随着国内集成电路设计水平和半导体制造技术的不断提高，片上系统（System on Chip，SoC）已经成为国内集成电路设计公司主流产品和重点研发方向[1~3]。一个典型的SoC系统通常集成了微处理器、嵌入式存储器、模拟IP核和数字IP核等多个功能模块。一些主流的消费类电子产品，如机顶盒、智能手机、导航、平板电脑等，其核心芯片均为SoC芯片。SoC芯片作为消费类电子的核心模块，其市场需求不断扩大。同时随着工艺和设计技术的不断发展，SoC芯片的更新换代速度也在不断提升。由于SoC本身功能的复杂性，使得SoC芯片功能的验证变得非常