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X射线非胶片成像技术的方法及性能评价近年来,由于微电子技术和材料科学的发展,X射线非胶片成像技术取得了长足得进步。成像方法和设备种类越来越多,应用领域越来越广阔,设备性能和价格也各不相同。与此同时,由于目前没有系统全面的相关技术介绍,许多用户受经验的限制或供货商的误导,采购了一些根本不能达到使用目的或感觉不好用的设备,最后直接导致巨额投资失败。本文旨在通过介绍目前市场上几种主流的非胶片成像方法,按照相关国内外标准规定的技术指标,结合实际使用过程中的便捷性、检测效率等要求,提出了不同方法的最佳应用领域,以期对设备使用者有所帮助或可资借鉴。1 非胶片成像技术的分类非胶片成像技术与胶片照相技术一样,都能提供物质内部结构的可见光影像,这种图像一般都是在计算机屏幕或视频监视器上显示出来。依据被检测物体的运动方式和计算机软件的不同,这种显示的图像可能是透视的二维图像,也可能是断层扫描图像,或者是两种功能同时兼备。在通常情况下,产生二维透视图像的系统(一般被称为X射线实时成像系统)适合于检测工作量大、对效率要求高的普通工业场合;断层扫描系统(通常称为CT成像系统)适合检测工作量小、无效率要求、但对质量需做到万无一失的场合。两种系统设备的组成基本一样,都是由X射线源、射线接收转换器、计算机及软件、检测机械等四大部分构成,但断层扫描对被检测物体的运动方式、运动精度和软件功能要求更高。目前,国内外通常是按照射线接收转换装置来对非胶片成像技术和设备进行分类。因为射线接收转换装置决定了成像系统的技术指标、性能、功能和应用范围。1.1基于图像增强器的X-TV电视成像系统诞生于20世纪40年代的X射线图像增强器,直到90年代末一直是非胶片成像的最主要方法,用于对一些质量要求不高的产品生产进行质量监控。由于受器件本身的结构原理限制,这种成像系统具有图像噪声大、灵敏度低、对比度差、图像变形、使用寿命短、不能对复杂零件进行有效检测、操作人员容易疲劳等缺陷。为了部分弥补这些缺陷,人们提出了许多改进措施,同时对配套设备也提出了苛刻的要求,如:使用小焦点X射线源,利用几何投影放大改善灵敏度和分辨率;使用计算机后续图像处理系统降低图像噪声;使用光栅弥补设备动态范围不足和避免因为射线直接照射而导致增强器损坏等。毫无疑问,采用这些方法具有积极的效果,但负面影响却是X射线源效率降低、静态图像处理时被检测物体不能运动使系统丧失了实时成像的功能、设备检测范围减小和配置更加繁杂等。可以这样认为:基于图像增强器的X-TV电视成像系统仅仅是非胶片成像技术的第一代产品,也是一种初级产品。各种弥补图像增强器本身结构原理缺陷的方法不但没有彻底解决问题,却使系统设备配置变得更加复杂。先进工业国家已经将这种技术列为淘汰产品,预计在未来3~5年内,这种设备将会彻底退出市场,到时候可能连现有设备的配件都难以采购,价格将十分昂贵。目前,一些有实力的设备开发和供应商已经终止对这种技术的进一步投入。1.2基于探测器阵列的DR直接数字成像系统非胶片成像技术的诱人前景和其初级产品-基于图像增强器的X-TV电视成像系统的龊劣表现大大激发了业界研制、开发新一代非胶片成像技术的信心。这些努力在90年代末期得到了良好的回报,新一代基于探测器阵列的DR直接数字成像系统成功面市,其优异的性能迅速被用户认可。而且以探测器阵列为核心,彻底改变了射线成像设备的设计思想,降低了对配套设备的要求,派生了大量的新产品,大大拓展了非胶片成像技术的应用范围。DR直接数字成像技术是将一种新型的射线探测单元排列成一个阵列,并将它们直接与大规模集成电路连在一起,同步完成射线接收、光电转换、数字化的全过程。这种射线-数字的直接转换方法,大大地减小了信号长距离传输和变换过程中产生的噪声信号,配合使用相应的滤波电路可以获得低噪声、高灵敏度图像。组成阵列的每一个射线探测单元都是经过精加工制成的,其几何尺寸仅为几十微米,因此具有极高的空间分辨率。特殊的制造技术可以保证探测器承受高能X射线的直接照射而不损坏。同时,环境适应能力非常强,如抗强磁场、强电场、高温、潮湿、灰尘等。由于采用先进的闪烁体材料,该器件无老化现象,实际使用寿命跟集成电路相当,至少10年以上。基于探测器阵列的DR直接数字成像系统产生的图像质量完全可与胶片照相媲美,在绝大多数领域可以代替胶片照相,跟数码相机代替普通相机一样,这种技术将引起射线检测技术的一次革命,实现了射线检测高质量、高效率、低成本。基于探测器阵列的DR直接数字成像系统根据探测单元的排列方式不同,可以细分为线阵和面阵两种,分别简称为线性探测器和成像面板。由于排列不同,虽然二者的基本功能和电气特性完全一致,但在检测图像的质量和配套设备的选择方面仍有差别。线性探测器可以在其接收端口安装射线准直窗口,屏蔽周围散射线的影响,所以图
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