简述工业测控系统现状及发展趋势.pdfVIP

维普资讯 简述工业测控系统的现状-v及j发／艺展趋势趔丁尸宝矽、 王 祥 生 ， ， 随着计算机硬件、软件技术的迅速发展及集成电路技术的 日益提高．工业测控技术在我国 已经取得了巨大的进步，并成为计算机技术应用领域中最具活力的一个分支。在我国．工业测 控技术的发展方兴未艾。新技术、新工艺不断地向传统的技术和工艺挑战。用计算机测控系统 取代传统的测控仪表，用现代的控制算法取代经典的控制算法，用灵敏、节能的新型智能传感 器取代传统、老式的变送器等等，已经成为工矿企业及科研院所设计和改造工业测控系统重点 考虑的问题 。 今天，世界计算机技术的发展速度之快．可谓 日新月异。与之紧密关联的工业测控系统，It 前发展到何等水平? 以及今后的发展趋势如何?值得探讨 一 、 当前工业测控系统的结构现状 经过多年的发展 ，工业测控系统在我国已经逐渐形成一项专 门技术，从最古老的人工测量 现场数据 ．人工控制现场设备发展到一次表、二次表的测控方式，进而发展到单片机参与的智 能化仪表，工业计算机参与的半 自动化测控方式，以及最近发展的集散型计算机全 自动闭环测 控系统。这期间，工业测控系统的发展经历了从低级到高级，从手动到自动，从开环到闭环的发 展过程 。 当前工业测控系统从工业测控系统与被控对象之 问的关系可分成开环系统和闭环系统二 类 若从技术结构上又可分成集中型测控系统、集散型分布式测控系统、多机高可靠性系统等 等 。下面仅就技术结构方面对当前工业测控系统的现状作一介绍： 1．小型集中型测控系统； 集中型测控系统指对现场工业设备参数的集中检测，控制和管理。此种方法只适用于测控 参数少，而且参数相对集中的工业现场 。 集 中型测控系统的结构框图如图 1所示 、 图 1 为集中型剥控系统的结构框 图 18 维普资讯 fU 2．集散型分布式测控系统：(DOS系统) 分布式测控系统是 由一台主机和多台从机按不同层次构成的、各层次有不 同分工要求的 工业控制系统，构成结构呈宝塔形，上面小，下面大。每一子集 (上位机)下面接若干台从机 ．形 成一个分布式结构 这种分层次的计算机分级控制系统是信息集中化、控制分散化的理想的计 算机控制系统结构 在这样的结构 中，计算机第一级直接面向工业控制过程，第二级以上则面 向不同层次的操作、使用、调度和管理人员。第二级以上的计算机 已经不直接面 向生产过程，实 际上成为不同层次等级的数据 (信息)处理系统。这就相当于在工业控制领域 内，计算机分级控 制系统是 由数据处理系统加上过程控制系统构成的。第一级从机安放在工业现场，将采集的测 控参数变换成数字信息传送给主机 。主机则安放在测控室 内，完成集中显示 控制，越 限报警 ， 制表及打印等工作。并将控制信号传送给第一级从机 ．由第一级从机去完成现场设备的控制任 务。主机和多台从机之间的通讯视距离远近可采用并行或 串行 口进行通讯。 分布式测控系统的总体结构框 图如图2所示。 图2 为分布式测控系统的总体结构框图 系统的总体结构 ： 系统具有测控．通讯，管理等多任务的功能。它 由多个分散的计算机系统经过互联网络控 或一般通讯接 口构成测控功能．负载分散，地域分散 ．危险分散的多计算机系统，采用分布式控 制系统，系统功能可以分成若干独立任务．系统中无论硬件，软件都可以按照功能分散处理，因 此系统能以软件和硬件分别作为一个整体来实现模块化，增强了系统的扩展性和灵活性。 ● 上位机通常由一台功能较强的386以上微机和一台打印机组成，实现生产过程的监测，控