一种有效确定多层介质分界面折射点位置的方法.pdfVIP

第 34卷 ／第 1期 ／ 河北师范大学学报 ／自然科学版 ／ VOI．34 NO．1 2010年 1月 JOURNALOFHEBElNORMALUNIVERSITY／NaturaIScienceEdition／ Jan．2O10 一 种有效确定多层介质分界面折射点位置的方法 韩志勇， 陈 佳 (中国民航大学 理学院，天津 300300) 摘 要 ：利用 电磁波在介质分界面上的折射特性，研究了一种有效确定多层介质分界面上折射点位置的方法 ． 以双层介质为例 ，介绍 了折射点确定原理与常用的 “工程算法 ”的实现 ，提 出了一种双层介质折射点的精确计算方 法—— “转角法”，对各种方法进行 了分析 比较 ，并借助工程软件编写相应求解程序对其准确度进行验证 ．计算结果 表明，所提供的计算方法简单有效． 关键词：多层介质 ；折射点 ；DAS成像 中图分类号 ：TN957．52 4 文献标识码：A 文章编号 ：1000—5854(2O1O)O1—0050—04 随着电子、计算机技术的发展 ，以探地雷达为代表的电磁探测技术正飞速发展 【lJ．它利用高频 电磁波 在地下介质 中的传播特性来探测地下 目标．通过发射天线向地下发射电磁波，电磁波在传播过程 中遇到电性 不连续界面时被反射 回地表 ，在地面上利用接收天线接收反射波 ，记录反射波的到达时间和波形 ．最后 ，通过 对反射波形 的回放处理与分析，确定地下界面或地质体的空间位置及分布形态 J． 电磁探测成像以及图像的还原是电磁探测过程中的2个重要环节 ，而这 2个环节得 以顺利实现的前提 是电磁探测过程中电磁波折射点位置的确定 ，以便进一步计算出探测过程 中电磁波传播时间以及传播路径 ， 为图像还原打下基础 ．本文中，笔者首先以双层介质为例 ，介绍了折射点确定原理与常用 的 “工程算法”的实 现，同时提出了一种双层介质折射点的精确计算方法—— “转角法”，并借助于Matlab工程软件 6【J编写相应 求解程序对其准确度进行验证．在此基础上，还进一步将 “转角法”应用到多层介质折射点位置的求解问题 中，其折射点的求解方法均可在探地雷达 DAS(delayandsum)方法成像过程中予以采纳和应用． 1 电磁波传播过程中折射点位置的确定方法 1．1 双层介质中折射点的精确算法与工程算法 电磁波在传播过程中，当传播介质发生改变时由于介质相对介电常数的改变，会导致电磁波的传播路径 发生改变，即发生折射．对于非磁性介质 ，入射角与折射角满足 ： ． ， (1) sin02 e1’ 一 其 中 0】为入射角，02为折射角，e1为人射介质相对介电常数 ，e2为折射介质相对介电常数 ． 由折射定律可以得出在双层介质中折射点横坐标满足的方程 √( ／ _) ： ． (2) z—X1)+^i √(X2一X)+^i ~／￡1 其 中：Xl为电磁波发射源横坐标 ，h 为发射源离地面高度 ，X为折射点横坐标 ，X2探测物横坐标 ，h2为探测 目标地下深度 ，e，为人射介质的相对介 电常数，e：为折射介质的相对介 电常数 ． (2)为关于折射点横坐标的四阶方程 ，对其求解可以精确确定折射点位置，但该方程求解相对复杂． 为计算简便 ，在工程应用中通常采用一种 “工程算法”[。]．图 1为工程算法几何关系示意 图，由此可以 得到折射点坐标近似计算公式 (3) 收稿 日期 ：2009．10．20 基金项 目：国家 自然科学基金；中国民航大学科研启动基金(qd04q07) 作者简介 ：韩志勇(1970一)，男，河北石