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- 2017-08-25 发布于上海
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X光强度与管电压U、管电流I关系的定量研究
徐菊良
摘要:由于在做X光衍射实验时要选者不同的管压和管流以得到最好的衍射图像,而实际实验中并不能很好的选择,本文利用X光能使气体电离这一特点,用平行板电容器间接的测量出X光强度与管电压U和管电流I的关系,并计算得出当管电压U为35KV时衍射图像质量最好。
关键词:X光,阀值电压Vk,连续谱强度,特征谱强度,最佳管电压。
引言
波长在10-8m到10-11m范围的电磁波称为X光。当高速运动的电子与原子相碰时,一般会发射X光。如果高速电子与原子中的内层电子相互作用使其激发,当其退激时会发出X光,其能量E=En-Em,由于此能量反应了该物质的特性,所以此射线称为“X射线特征谱”,如图1所示的Kα、Kβ。而当高速电子接近原子核时,原子核会使它偏转并产生电磁辐射,这种辐射也在X光的范围,它的能量分布是连续的,所以称为“连续谱”,如图1箭头所指。
钼靶X光管的工作原理:阳极钼靶上加高压U,阴极通入电流I后会发射电子,这些电子在高压的作用下轰击钼原子而产生X光。图1所示为钼靶X光管发出的X光,由图可知,当电压低于20KV时只有连续谱,而当电压超过20KV后才有特征谱,此20KV即为钼靶X光管的阀值电压。由图1还可知当管电压U增大时,X光强度也会增大,但是具体X光电强度与管电压U、管电流I的关系不能一目了然。本文就是要研究X光强度与U、I的关系,并计算
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