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仪 器 说 明
CSY10G型光电传感器系统实验仪是为了适应现代光电传感器实验教学课程所需而研制的实验仪器 。其特点是将各种光电传感器、被测体、信号源、仪表显示、信号采集、处理电路及实验所需的温度、位移、光源、旋转装置集中于一机,可以方便地对十种光电传感器进行光谱特性、光电特性、温度特性等二十余种实验。并可根据实验原理自主开发出更多的实验内容。
实验仪主要由实验工作台、信号控制及仪表显示、图象和数据采集、光电转换/处理电路组成。
位于实验仪顶部的工作台部分,分别布置有热释电红外传感器、温度源、慢速电机、衍射光栅、固体激光器、PSD光电位置传感器、CCD电荷图象传感器、位移平台、光电器件安装板、莫尔条纹光栅位移传感器、光纤传感器、光电断续器、旋转电机等。(详见实验仪工作台布局图)
传感器:(十种)
光敏二极管:由具有光敏特性的PN结制成,不同的二极管光谱范围是不同的。
光敏三极管:具有NPN或PNP结构的半导体光敏管,引出电极二个,较之光敏二极管具有更高的灵敏度。
光敏电阻:CdS材料制成,其电阻值随光照强度而改变。
光电池:根据光生伏特效应原理制成的半导体PN结,光谱响应范围在50~100μm光波长之间。
光断续器:透过型的红外发射-接收器件。
光纤传感器:导光型红外发射-接收传感器,可测位移、转速、振动等。
PSD光电位置传感器:一维半导体光点位置敏感传感器,测试范围≤10mm,灵敏度≥0.01mm。
CCD电荷耦合图象传感器:物体轮廓与图象监测,光敏面尺寸4mm×3.5mm。
热释电红外传感器:工作范围波长5~10μm红外光,探测距离≥5m。
光栅传感器:光栅衍射及光栅距测试、光栅莫尔条纹精密位移测试。
温度源:电加热器,温升≤100℃。
光源:12V安全电压,高亮度卤钨灯;各色高亮度LED发光管。
慢速电机:控速电机及遮温叶片组成。
位移装置:位移范围25mm,精度1μm。
旋转电机:转速0~2400转/分。
直流稳压电源:±12V、±2V~10V、激光电源、CCD电源。
数字电压/频率表:3 1/2位显示,精度1%。
微安表:0~100μA,精度2.5%。
试件插座:位于光电器件模板上,可供实验者插入随机所带附件中提供的光电器件进行实验比较,试件插座与仪器下部面板上的传感器接口处的“光敏电阻Ⅱ”、“光电池Ⅱ”、“发光二极管Ⅱ、Ⅲ”的备用插座相并接,实验时试件可插入试件插座,也可插入相关传感器的备用插座。
实验选配单元:实验者可利用仪器提供的电源、电位器、三极管、部分光电器件、仪表及实验连接线组成光电器件的光谱、照度、伏安特性等测试电路。
实验时,传感器接入光电转换/处理电路相应的传感器接口,按照实验内容正确操作,确认无误后开启电源。
实验者可利用仪器提供的试件插座对相同种类不同型号的光电传感器进行性能测试比较。
请按照说明安装好图象卡及实验软件,正确进行选项设置,并在详细了解了实验软件内容和操作方法后进行实验。
实验前应检查仪器的工作电压是否正常,实验连接线是否完好,实验中应避免电源之间相互短路。
图象卡的视频线及数据采集卡的通信线务请连接正确。
请注意当高亮度光源打开时对仪器有一定的干扰,特别是在小信号数据采集时应避免开灯,光源灯头及电源线接头应注意保持接触良好。
CCD摄象机及一体组装的移动导轨请根据实验需要按布局图安装在导轨基座上。
请特别注意:固体激光器插头不要插入CCD电源插孔,否则会烧坏激光器。
光电实验仪器在实验时应注意背景光的影响,必要时有些实验应在暗光下进行。
请注意本仪器为实验性仪器,大多实验主要是对光电传感器进行定性的分析演示,而非应用工程中的定量测试。通过完成本实验仪的实验内容,期望能对实验者在光电传感器方面的认识有所加深,为以后的工程应用打下基础。
仪器使用前应对各项传感器、公共电路进行检查,如能完成实验指导书中的相应内容,则仪器性能正常。
实验一 光敏电阻特性实验
实验原理:
光敏电阻又称为光导管,是一种均质的半导体光电器件,其结构如图(1)所示。由于半导体在光照的作用下,电导率的变化只限于表面薄层,因此将掺杂的半导体薄膜沉积在绝缘体表面就制成了光敏电阻,不同材料制成的光敏电阻具有不同的光谱特性。光敏电阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。
实验所需部件:
稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、各种光源、遮光罩、激光器
实验步骤:
测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻
观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩盖,用万用表测得的电阻值为暗电阻
R暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的阻值为亮电阻,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光电阻越大,则灵敏度越高。
在光电器件模板的试件插座上接入另一光
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