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实验一集成门电路的逻辑功能测试.pdf
实验一 TTL/CMOS 集成门电路的逻辑功能测试
一、实验目的
1 掌握查找集成门电路资料的方法。
2 掌握 7种逻辑门电路的逻辑功能。
3 会用 74LS00(四 2输入与非门)实现其它逻辑功能。
4 初步用 Multisim10进行数字电路的仿真。
二、实验设备和元器件
1 SAC-2电工电子实验台；SS-01数字实验模块。
2 DL-4330示波器；EM-1463函数信号发生器。
3 74LS04 74LS00 74LS02 74LS86
三、实验内容和步骤
1． 74LS04(六反相器)逻辑功能测试
将 74LS04 按图 1.1 连线。输入端 A 接逻辑开关，输出端接发光二极管。改变输入端的
状态（即高、低电平），观察输出端发光二极管的亮灭。
VCC X1 LED
5V
J1
U1A
Key = A
74LS04D
图1.1 + U2
0.113 V 电压表
-
2． 74LS00(四 2输入与非门)逻辑功能测试
将 74LS00按图 1.2连线。输入端 A、B接逻辑开关，输出端接发光二极管。改变输入端
的状态（即高、低电平），观察输出端发光二极管的亮灭。
VCC
5V X2 LED
J2
Key = A U3A
J3
74LS00D
+ U4
Key = B - 4.424 V 电压表
图1.2
3．74LS02(四 2输入或非门)逻辑功能测试
将 74LS02 按图 1.3 连线。输入端 A、B 接逻辑开关，输出端接发光二极管。改变输入端
的状态（即高、低电平），观察输出端发光二极管的亮灭。
1
VCC
5V
J1 X1
LED
Key = A U1A
J2
74LS02D
+ U2
Key = B - 4.424 V 电压表
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