SAM一种容错的末级缓存可扩展地址映射方法.pdfVIP

第 35卷 第 1O期 计 算 机 学 报 Vo1．35 No．10 2012年 1O月 CHINESEJOURNALOF COMPUTERS 0ct．2O12 SAM ：一种容错的末级缓存可扩展地址映射方法 李崇民 汪东升 王海霞 薛一波 (清华信息科学技术国家实验室 (筹) 北京 100084) 摘 要 随着半导体工艺进步，多核处理器超过 6o 的片上面积 由片上缓存 占据．由于特征尺寸缩小及供 电电压 下降，片上缓存较 以往更容易发生错误．缓存错误包括可恢复的软错误 (softerror)及不可恢复的不稳定位 (erratic bit)失效．传统容错技术主要研究针对单个缓存模块的保护．当缓存中包含成百上千个模块时，即使单个缓存模块 出错的概率很低 ，系统中有一个或多个缓存出错的概率也相对较高．文 中提 出可扩展地址映射(SAM)方法 ，支持对 可缓存地址空间灵活高效的映射 ，提高末级缓存的可靠性．通过对末级缓存地址空间进行重构，只要有末级缓存模 块可 以工作 ，SAM就能够保证系统正确运行．SAM可应用于共享或集群缓存组织方式．文 中提出的算法能根据末 级缓存 中出错缓存模块的数 目变化 ，动态调整集群缓存组织方式下的集群大小．实验结果表 明，sAM 方法可在多 种 出错环境下保证系统功能正确 ，且性能平滑下降． 关键词 多核处理器；高速缓存 ；地址映射；容错；可靠性 中图法分类号 TP310 DOI号：10．3724／SP．J．1016．2012．02080 SAM ：A Fault—TolerantScalableAddressM appingM ethodinLast—LevelCache LIChong—M in W ANG Dong—Sheng W ANG Hai—Xia XUE Yi—Bo (TsinghuaNationalLaboratoryforJnformationandTechnology，Beijing 100084) Abstract W iththeadvanceofsemiconductortechnology，morethan60 areaofchipmuhipro— cessormaybededicatedtoon—chipcachememory．Duetoshrinkingfeaturesizesanddecreasing voltage，on—chipcachesaremorevulnerabletofaultsincludingrecoverablesofterrorsandunre— coverableerraticbitfailures．Conventionalfaulttolerancetechniquesmainlyfocusontheprotec— tionofsinglecachemodule．Foracachehierarchywithhundredsofmodules，thereisaconsidera— bleprobabilitythatoneormorecachemodulesfailevenifthefaultprobabilityofsinglemoduleis relativelylow．InthispaperweproposeScalableAddressMapping (SAM )methodwhich sup— portsanefficientandflexiblemappingmechanism forthecacheableaddressspaceandimproves theLLC reliability．SAM can reconstructtheLLC memoryhierarchy．Ifthere isatleastone functiona1LLCmodulelefton—chip，SAM canmaintainthesystem operatingcorrectly．SAM can beusedinb