基于电容探针对稠相气固流动系统内颗粒浓度的测量.pdfVIP

第4卷增刊 过程工程学报 V01．4 Suppl． 2004年8月 TheChineseJournal ofProcess Engineering Aug．2004 基于电容探针对稠相气固流动系统内颗粒浓度的测量 赵香龙1，姚强1，李水清1，李容1，郑义忠2 (J．清华大学热能工程系，北京100084：2．天津大学精密仪器与光电子工程学院，天津300072) 摘要：本文设计了一套电容探针测量系统，采用运算式测量电路代替了传统的桥式电路，并采 用双屏蔽驱动电缆消除了电缆电容和寄生电容的影响，从而得到了很高的稳定性和灵敏度：介绍 了电容探针的测量原理和在稠相气固流动系统中的标定方法；最后将本探针应用于典型的气固流 动系统—赜动床中小米颗粒浓度的测量，得到了其浓度沿轴向和径向的分布． 关键词：电容探针；稠相气固流；颗粒浓度：喷动床 l前言 对气固两相流局部颗粒浓度分布的测量主要有3类方法：一类基于电磁辐射强度在介质中的 衰减，如X射线和Y射线断层成像法：第二类是基于光在介质中的吸收或散射，如光纤法：第三 类是基于介电特性与浓度的关系，如电容法．射线法是一种空间分辨率很高的无扰测量技术，原 理是依据X或Y射线穿过床层后的强度衰减，通过一种再现算法来计算局部固体浓度分布，缺点 是只能计算出沿射线路径的颗粒浓度的时均值，实时性较差，而且X射线断层成像系统非常昂贵， 极大地限制了它的应用．光纤法优点是设计简单、对流场干扰小、稳定性好、测量范围广，因此 成为一种应用较广的浓度测量技术【l】．但光纤法测量有一个很大的缺点，其探头容易蒙灰而堵塞光 路，尤其在高浓度下更是如此．而电容法则能克制这一缺点，因为电场是可以穿透介质的，在极 板上积累少量介质只会对测量结果有很小影响．电容法对颗粒浓度测量主要有电容断层成像和电 容探头两种方式．电容断层成像跟X射线断层成像类似，是一种较先进的无扰测量技术，但其设 备仍昂贵，且空间分辨率较低致使其测量范围有限．因此，从I,ik化实现角度来考虑，电容探头 可能是一种十分具有前景的稠相颗粒浓度场测量方法． 传统的电容探头为两个平板，板间的颗粒浓度变化会改变板间介质的介电常数从而引起平板 间的电容的改变．这种平板探头对流场干扰大且灵敏度低，后续研究对其有很多的改进，其中影 对电容探针设计作了很大的改进，使得探针的精确性、稳定性和再现性都有了巨大提高．Hage和 内早期也曾涉入电容探针测量研究，如俞振奎等f61和李洪钟f7】等． 电容探针用于气固流浓度的定量测量主要有三个困难：首先是由于电容探针传感器电容 值很小，甚至比连接探头与电路的电缆电容还小，因此电缆电容对测量影响很大；其次是带 电表面附近会产生寄生电容，也会影响到对传感器电容的测量；第三是传感器电容有时会小 到低于传统电桥的测量下限．因此对探针电容的测量必须具备高灵敏度和高稳定性． 我们在天津大学开发多年的JDC电容测微仪的测量电路的基础上，对电容探针电路作了很大 基金项目：国家自然科学基金资助(批准． 作者简介：沈建琪(1965一)．男。博士．教授，主要从事颗粒测量技术研究，E-mai I：shenjq@online．sh．cn． 574 过程工程学报 第4卷 的改进，使用运算式放大电路代替传统的桥式电路，并通过双屏蔽运算式驱动法技术消除了电缆 电容和寄生电容的影响，从而实现了高灵敏度和高稳定性的测量．本文将介绍对电容探针所作的 改进以及将其用于测量喷动床颗粒浓度的实验结果． 2电容探针测量系统及其理论基础 2．1电容探针传感器及其测量系统 电容探针传感器简图如图1所示，主要由探针、屏蔽层和套管三部分组成，这三部分由绝缘