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NI TestStand 处理用于航空电子的 老化测试模型 通过修改SPM可 应对更复杂的测试序 列问题。将这个组件 与最新NI TestStand 特性结合，我们能够 针对各类测试要求实 现独特、灵活的解决 方案。 - Robin Lord BEng Hons., Serco Systems Engineering Business Group The Challenge: 为军用航空电子系统 老化提供紧凑的基于 商业现货的测试方 案。 The Solution: 通过NI TestStand 设计并创建老化测试 装置。 Author (s): Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business Group Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group 老化测试的对象及策 略 Serco测试系统 公司需要开发一种老 化测试系统，它能够 在生产过程中诱导缺 陷元件在时间及压力 方面失效，以防止致 命问题的征兆在现场 出现。使用最初，系 统由于固有缺陷或生 产相关因素导致的失 效率很高，接下来一 段时间失效率较低， 直到产品接近使用寿 命时失效率又会回 升。老化过程就是热 应力及功能性电子测 试的重复循环应用。 我们将被测单元放入 热处理室，然后连接 这些单元以测试设 备。循环测试从加热 循环开始，在热处理 室降温并给被测单元 断电后暂停。 图1. Serco 公司的 老化测试装置 NI TestStand 应对挑战 航空电子要求通过老 化测试检测仅在极限 温度下出现的问题。 老化测试循环时间较 长，并需要重复测 试，由此可以发现问 题并反馈给测试方案 提供者。 Serco 测试系 统公司可以采用 NI TestStand 来应对挑战： 保证被测单元在 老化测试过程中不会 处于过应力状态，在 整个温度范围内进行 足够的测试 提供多个单元并 行测试，从而充分利 用热处理室工作时 间，最大化产品吞吐 量 能够在测试进行 中取下单个测试单 元，同时不影响正在 进行的测试 NI TestStand 顺序过程模型  1/7 我们将NI TestStand 默认的顺序模型分为 两个模块——自动化 测试程序 （ATP），包含用 户自定义的离散测试 步骤；顺序过程模型 （SPM）封装。封 装处理每个产品测试 的标准操作，包括测 试开始/停止、结果 记录、及测试报告生 成。我们可以有效地 在封装与用户定义的 ATP之间传递控 制。SPM被设计成 每次测试一个被测单 元，随后进入下一阶 段。航空电子老化要 求对同一被测单元进 行多个测试循环，并 且多个被测单元能够 在同一处理室中进行 测试。因此，最佳方 案是改进SPM，以 创建老化过程模型 （BPM）。 航空电子老化测试 为充分利用，处理室 必须能够容纳不同被 测单元类型。通过允 许用户决定在运行阶 段的ATP 序列， 使得我们开发的 BPM能够满足多种 被测单元类型。 被测单元预设置 在测试循环的第一阶 段，我们通过设置变 量来控制ATP流。 测试类型及循环状态 指示器分别设置为 “pretemperature” 和“cold”。由 被测单元数据入口面 板提供显示，其外观 取决于被测单元类 型。通过该面板，操 作人员能够得到每个 被测单元的细节，从 而提高在同一个处理 室中有多个或不同类 型的几个被测单元时 的吞吐量。状态面板 在每个被测单元初始 化后加载，它能显示 被测单元位置及执行 的ATP 类型。 有标号的方块代表每 个被测单元，它们根 据执行程序中当前状 态进行颜色编码。操 作人员可以选择“修 正细节”按钮来修改 之前输入的信息。这 就便于在测试阶段加 载或卸载被测单元， 以充分利用处理室资 源。 老化ATP 主要顺 序 设备的初始化及操作 人员的连接指令都因 新加载被测单元的类 型不同而不同。 温度测试之前的测试 每个被测单元的测试 都要确保所有测试项 目都优先于热循环测 试。在测试失效时， 系统会提供替换选 项。测试系统为每个 成功完成测试的被测 单元生成报告。 热循环温度测试 当处理室进入热循环 状态后，序列将“测 试类型”改为“温 度”测试，并调用 ATP 主序列。该 阶段对每个被测元件 执行完整测试，并编 译独立报告、显示状 态面板、监测处理 室。 冷循环－测试中断 当处理室状态进入冷 循环后，所有单元都 断电，序列回到被测 单元预设置阶段，并 更新状态面板，监测 处理室。 测试终止 为了避免由于单个被 测单元失效而造成整 个测试循环终止， BPM包含了两个不 同的终止程序。在温 度测试之前的测试阶 段及热循环测