激光探测技术研究.pdfVIP

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激光探测技术研究 邬双阳张丈平李冬梅王治中严小虎赵明福 (中国电子科技集团公司第二十七研究所郑州450005) 摘要:本文就目前国内靶场常用的几种激光探测器进行了讨论,并就光电探测系统的标定技 术进行了理论和试验研究,主要内容包含激光探测器的类型选择、光电探测系统的标定技术,并就 实验结果进行了分析、讨论. 关键词:纳秒级激光探测:探测器;探测系统的标定 1 前言 在激光、光电技术的发展过程中,作为激光整机前端的光电探测具有重要地位,特别是在野外 激光测量过程中,如何高精度实现对激光信号的探测,体现着系统对光电探测技术的应J{j研究水准 的把握,在其l:程化的实现过程中尤为重要。本文主要介绍激光探测中所遇到的问题,并就实现方 法和实验结果进行讨论。 2激光探测研究 2.I激光探测器选择 在激光探测系统中.探测器的好坏将直接影响到整机的灵敏度,并关系到整机的1:作成败,在 激光探测系统中,不仅含有可见光,近红外,还含有远红外的接收。根据激光探测理论,在选择探 测器时不仅要考虑入射波长、入射光功率、探测器的响应光谱、响应时间、I:作温度、光敏面等探 测器本身性能技术指标外,还要考虑外部环境及接收的信号形式,因此在其口掣化的实现过程中麻 选受环境温度影响小,可靠性高、满足系统灵敏度等技术要求的激光探测器。 对于可见光和近红外波段纳秒级脉冲激光探测系统中.在满足整机灵敏度要求的情况-卜,PIN 光电二极管可做为优选光电探测器,该器件不仅可靠性高,体积小,控制电路简单,线性范嗣宽, 响应时间纳秒级,技术成熟外,PIN光电二极管的环境适应能力是比较强的。 对于中红外波段10.6“m激光探测,由于系统要求对整机灵敏度较高,根据目前国内外的器件 发展水平,可供选择主要有两类激光探测器。 1)HgZnCdTe探测器 HgZnCdTe探测器工作波段可以从近红外延伸到远红外,该器件响应时间为纳秒级,通常有常 温l:作和热电致冷两种工作方式。主要应用在接收机灵敏度要求不特别高的脉冲激光探测中。 2)HgCdTe探测器 HgCdTe探测器主要为低温4I:作器件,通常需工作在77K的低温下,该器件接收灵敏度高。适 用丁微弱信号的探测,是现有红外探测器中灵敏度较高的器件,但应用较复杂,特别是致冷方式的 选择有多种1:作方式。 单元HgCdTe探测器是较为成熟的器1;.f=,但通常国内应用都采.【fi液氮致冷的方法,斯特林致冷 的单元Hgcdye探测技术的.[程化应用尚处于起始阶段,影响该技术发展的最重要冈素就是探测器 与致冷器的匹配对接、抗电磁干扰、环境的适应性等技术难题。 2.2激光探测系统的标定 激光探测系统的任务实质上犬部分应用可以归结为激光功率密度的高精度绝对值测量,绝对值 测姑的基础在丁.准确的标校。因此标校精度是系统研制过程中改进设计和各级别验收的重要依据。 对任何激光探测系统,通常在设备验收前都要对系统进行测量和标定。 激光探测系统的标校历来是激光测量研究的重要内容,尤其是红外波段。目前国内对激光探测 器的技术指标测量主要采.}lJ室内单色仪测量方法,这种测量方法主要针对单一小功率非激光入射探 测器的标校测量,而对于人功率激光入射探测整机系统大多采用激光衰减测罐方法,通常在近红外 波段获得较高的测鬣精度,在中、长红外波段由于缺乏有效的可视化观测、监视、光束对准手段、 测量仪器、标准光源、衰减手段等方面的原因,目前国内外尚无公认的标定方法,测量精度相对较 低。 通常一个激光探测系统的标校原理如图2.1所示。 图2-1标定原理框图 标准激光源发射光束经光学系统准直到达分光镜,分光镜将入射光束按比例分光,一路用丁光 功率监测,一路经标准衰减器到达激光探测单元,激光探测器接收光信号,经过光电转换、放火、 A/D转换,输出测鼙信号和光功率监测结果送入数据采集系统,计算机处理数据并记录,此时探测 单元的输出信号即表征了光功率监视器测量的激光功率的绝对值。从小到人调整光信号源输出功率, 可得到探测单元最小和最大可测功率,即灵敏度和饱和值,动态范围即为两者之差。 3试验结果分析 3.1司见光、近红外段 根据以上分析,在某激光探测系统的研究过程中,我们分别对可见光O.53um,近红外段1.064 lJ.ITI、1.5411m,远红外的10.6um波段的激光接收机进行了室内标

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