宽光谱范围、高响应度的InGaAs%2fInP光电探测器.pdfVIP

宽光谱范围、高响应度的InGaAs%2fInP光电探测器.pdf

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第十五届全国化合物半导体、微波器件和光电器件掌术。分议 I-州’08 nGaAs/l 宽光谱范围、高响应度的I nP光电探测器 归强裴为华陈弘达 (中国科学院半导体研究所,集成光电了学国家重点实验室,北京100083) 摘要:本文报道了一种适用于0.6¨m~1.65哪波段使用的InGaAs/InP光电探测器。该探测器使用的是外延在InP衬底上的 InGaAs材料,探测器结构采用PIN结构通过选择性扩散的方法制作,通过调整掩模尺寸和控制扩散条件,可以制备出具有不同 波段的响应度超过O.8A/W。5V偏压卜的暗电流小于2uA。经过老化测试实验,探测器的寿命可以超过lO万个小时,器件的可 靠性和稳定性已经达到商用标准。由于}H色的t艺稳定性和器件性能的一致性,该探测器可做成适用于多通道甚短距离光传输 用的探测器阵列。 关键词: InGaArglnP;宽光谱响应;高响应度;平面结构;光电探测器;探测器阵列 中图分类号:TN364+.2 文献标识码:B 文章编号: l i i i i I i nGaAs/InP W thh b and ghresponsty photo—detector Wi de—。spectra Chen Gui,WeihuaPei,Hongda Qiang on (StateKeyLaboratoryIntegratedOptoelectronics,InstituteofSemiconductors,CAS,Beijing100083,China) Abstract:Awide Photo—detectorsuitthe of communicationfrom was spectra qualificationoptoelectronic O.61am~1.651amreported.The InP wasfabricatedonInGaAsextendedfrom substrate.111ePINsaucturewas photo-detector producedbyselectivelydiffusing.111is method to characteristicofthe diameterofthesensitive fabricatingprovedfacilityadjustoptoeleetronic PD,forexample,the window,the timeandthe ofthe PDcanachieve0.8A/Watthe from to response packaged wavelength1.0lam1.651ara. responsibility.Theresponsibility 111e at isnotlessthanO.2MⅣ.111edarkcurrentisaslowas2nAundera5Vbias.111elifetimeofthePDCan 0.6pxn~lp.m responsibili

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