红外成像及应用.pptVIP

主要内容 前言 红外成像的发展 红外成像原理 红外焦平面和红外热像仪分类 红外热像仪的应用 红外焦平面阵列和红外成像仪的未来发展方向 市场分析 一、前言 自然界中一切物体，只要温度高于绝对零度(-273℃)，就总是在不断地发射辐射能（红外线）。 因此，从原理上讲，只要能收集并探测出这些辐射能，就可以通过重新排列来自探测器的、与景物辐射分布相对应的信号，形成热图像。 这种热图像再现了景物各部分的辐射起伏，因而能显示出景物的各部分的特征。 利用这种原理制成的成像器件就是红外热像仪。 一、前言 1.1 红外成像的由来 一、前言 红外射线及大气窗口 红外焦平面阵列探测器(IRFPA，infrared focal plane array) 表征辐射性质的基本物理量 几个基本的辐射定理 一、前言 红外射线 红外射线是一种与物体的表面温度密切相关的一种辐射，它是一种看不见、摸不着的一种电磁波。 一、前言 IRFPA： 把大量探测器单元，按照一定规则，用先进的微电子工艺，高密度地集成到一块对红外透明的材料芯片上，同时将其它必要的信号读出及处理电路，如：前放，集成到同一芯片或另一其他材料的芯片上，构成一个既能接收光辐射，又能将光电信号转变为可用数据输出的整体。 一、前言 辐射通量 辐射通量的空间密度F 辐射出射度M 辐射照度E 辐射通量的谱密度M? 黑体和灰体 辐射通量(Radiation Flux，单位：W) 单位时间内通过某一表面的辐射能量Q(单位：J)。 辐射通量谱密度M? 设一个物体的辐射出射度为M，则： M?=dM／d? M?是单位波长间隔中的辐射出射度，是波长的函数，称为分光辐射出射度，或辐射通量谱密度。 一、前言 红外成像原理中要涉及到的几个辐射定理： 普朗克定律 斯蒂芬—玻尔兹曼定律 维恩位移定律 基尔霍夫定律 普朗克定律(Planck’s Law) 以波长表示的普朗克公式为： 式中，M?表示绝对黑体的光谱辐射出射度（Spectral Radiant Exitance），单位：W?cm-2??m-1。 ?表示波长(?m)，T表示绝对温度(K)，C1、C2分别表示第一、第二辐射常数。 斯蒂芬-玻尔兹曼定律 在全部波长范围内对普朗克公式积分，得到从黑体单位面积辐射到半球空间的总辐射功率，即总辐射出射度的表达式，通常称为斯蒂芬－玻尔兹曼定律： M表示黑体的总辐射出射度，单位W?cm-2。 ?=5.6696?10-8(W?m-2?k-4)，为斯蒂芬-玻尔兹曼常数。 维恩位移定律(Wein’s Displancement Law) 1893年，维恩从热力学理论导出黑体辐射光谱的极大值对应的波长：?max=b／T 式中，b=2897.8?m?K。 基尔霍夫定律(Kirchoff’s Law) 一定温度下，任何物体的辐射出射度与其吸收率的比值是一个普适函数，只是温度、波长的函数，与物体的性质无关。 二、红外成像的发展 根据目前红外热成像系统的发展情况及对今后的预测，红外热成像系统大致可分为三代： 第一代 指六十年代采用的致冷型单元或线列红外探测器，以数目有限的探测单元为特征，借助光机扫描实现图像探测，同时还需要低温制冷器协同工作，如：HgCdTe、InSb、PbS等红外探测器，其产品成本高。 二、红外成像的发展 第二代 80年代，探测器由单元或线列走向了面阵，红外热成像系统发展成为红外焦平面阵列。 将红外焦平面阵列器件应用到红外成像中，出现了致冷型固体红外摄象机，它不需要光机扫描，通常称该技术为第二代红外技术。 二、红外成像的发展 第二代 存在两个缺点： 制冷：需要工作在液氮温度(77K，即：-196℃)。 价格昂贵：致冷型长波红外焦平面热像仪每台在10万美元以上，民用应用仍受到限制。 二、红外成像的发展 第三代 九十年代中期，美国发明了可在室温环境下工作的固体红外焦平面阵列，它完全克服了前两种红外技术的缺点，可以工作在室温，无需致冷，所以无任何机械运动部件，如：斯特林致冷机和斩波调制等。 这种器件应用到红外成像中，出现了非致冷型红外摄象仪。这种热像仪不仅在军事上得到了广泛的应用，而且还广泛应用到很多民用行业中。 二、红外成像的发展 美国德克萨斯仪器公司的红外前视系统(FLIR) 二战后，首先由美国德克萨斯仪器公司(TI)研制成功第一台用于军事领域的红外热成像装置(FLIR)。 它利用光学机械系统对被测目标的红外辐射扫描，由单元光子探测器接收二维红外辐射，经过光电转换及一系列信号处理，形成视频图像信号。 该系统的原始形式是非实时的自动温度分布记录仪，随着锑化铟和锗化汞光子探测器的发展，才成为高速扫描和实时显示目标热图像的系统。 二、红外成像的发展 瑞